磁気力顕微鏡(MFM)

磁気特性と表面形状特性を同時にイメージング

ナノスケールでの磁気力の研究は、以前から磁気記録材料、超電導体、磁気ナノ粒子などの分野の研究者の関心を集めています。磁気力顕微鏡(MFM)は タッピングモード™ から派生した二次的なイメージングモードで、サンプル表面の磁気力グラジエントをマッピングするのと同時に、表面形状データを取得することができます。

MFMの基盤となっているのは、特許技術の2パス技術であるリフトモードです。このモードは、サンプル表面と、サンプル表面から一定の高さにリフトされた領域のラインを交互にスキャンすることで、表面形状と磁気力を個別に測定するものです。

MFMを使えば、自然発生的および意図的に書き込まれた磁気材料の磁区構造のマッピングが可能です。

 

MFMモードを搭載するブルカーのAFMシステム:

推奨されるAFMプローブ:

Magnetic force microscopy 1
MFM image of bit-patterned media. Most of the dots are single domain, with either up or down magnetization. However, some of the dots also reveal an internal magnetic domain structure with up and down domains within one dot, indicating magnetic damage tha