MultiRange NanoProbe™
変位センサーを用いたマイクロインデンテーションが可能
ナノスケールからマイクロスケールまでの幅広い押し込み試験を
ブルカーのMultiRange NanoProbe(マルチレンジナノプローブ)は定量的なマイクロインデンテーションを実現します。MultiRange NanoProbeではピエゾ抵抗素子を用いて設計することで、高荷重・変位のインデンテーション試験が可能。破壊靭性、界面の凝着などの特性をマイクロ領域で評価できる有力なツールです。
深度感知微小小板を用いたマルチレンジナノプローブ。
マルチレンジナノプローブの硬膜のインデントは、約850 mNの力でフィルムの剥離をもたらす。
幅広いスケールで力学特性評価を
MultiRange NanoProbeはナノスケールからマイクロスケールまで幅広い定量的なインデンテーション試験に対応します。静電容量変位センサーとクローズド・ループの荷重、変位のコントロール技術を有する圧電アクチュエーターより、高い安定性と低熱ドリフトを実現します。MultiRange NanoProbeはお客様のニーズに合わせ、最大10Nの垂直荷重のヘッドまでご用意可能です。
