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クリープ特性

定量的なナノスケールでのクリープ特性評価

粘弾性材料および粘塑性材料に対し一定の荷重を保持し続けると、クリープという時間依存の変形が生じます。クリープは ナノインデンテーション試験 にて一定の荷重で保持した時間(保持時間)に押し込み深さの増加として観察されます。ナノスケールでのクリープを正確に観察するためには、ナノインデンテーションシステムの熱安定性、加えられた荷重の正確な制御および正確な圧子の変位(押し込み深さ)の検出が必要です。ブルカーのナノインデンテーションシステムは安定的かつ正確な制御システムにより、薄膜、界面および微細な表面構造の定量的クリープ特性評価を可能にしました。

ブルカーは独自の静電容量型トランスデューサーをシステムに搭載することによりナノスケールで定量的かつ信頼性の高いクリープ特性評価を提供しています。熱ドリフトの影響を受けやすい電磁コイルベースの作動技術とは対照的に、ブルカーの静電作動技術は作動中にごくわずかな熱しか発生しないため、高い安定性を誇ります。低ノイズフロアとブルカーの超高速フィードバック制御アルゴリズムが組み込まれたコントローラーを用いることで、精度の高いクリープ試験を実施可能です。さらに、 nanoDMA IIIには独自のリファレンス周波数測定アルゴリズムが組み込まれており、長時間にわたってドリフトフリーのクリープ測定を行うことができます。 nanoDMA IIIとブルカーの温度制御ステージを組み合わせて使用​​すると、様々な温度における正確なナノスケールのクリープ特性評価が可能になります。

クリープ特性を評価可能な独立型ナノインデンテーションシステム

TI980 Tool Image v5

TI 980 TriboIndenter

ブルカーの最先端のナノ力学特性、ナノトライボロジー特性評価装置。最大の性能、順応性、信頼性、感度、測定スピード。

TI950 Tool Image v5

TI 950 TriboIndenter

多用途に使用可能なナノ力学特性、ナノトライボロジー特性評価装置。幅広い複合評価をご提供可能。

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TI Premier

コンパクトなプラットフォームでナノスケールの力学特性評価のエッセンスを詰め込んだナノ力学特性評価専用装置。

TS 75 Product image v1

TS 75 TriboScope

ブルカーのAFM(原子間力顕微鏡)に取り付けてナノインデンテーションを行う専用アタッチメント

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PI 88 SEM PicoIndenter

SEM、FIB/SEM中で行うin-situナノ力学特性評価ハイエンドモデル

 

PI 95 TEM Picoindenter icon

PI 95 TEM PicoIndenter

TEM(透過電子顕微鏡)中で行うin-situナノ力学特性評価モデル