Contour CMM

光干渉式3次元測定器(CMM)

表面粗さ、形状、および寸法データのすべてを1つの計測手法で提供できる世界初のCMM

ブルカーの Contour CMM システム は特に、多数のアプリケーションで採用され、高精度の寸法計測と3D表面分析の両方を必要とする微小な特徴を計測するように設計されています。

 

Contour CMM を使用すると、エンジニアや研究者は、ナノスケールの高さと表面テクスチャーの計測と、幾何寸法および公差(GD&T)用の3D計測をすべて1台の装置で同時に実行できます。

 

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非接触で高密度のデータ - 真の3次元空間で

Contour CMM ball measurement v2

標準的な直径10 mmの球の計測を示すソフトウェアインターフェイス。高密度の点集合の拡大表示(右)。

最高の表面分解能 - Contour CMM は、数十年にわたり、干渉法テクノロジーに関して独自に研究開発を行った直接の結果です。このシステムは、ブルカーのWyko® 光学プロファイリングテクノロジーに基づく白色干渉法(WLI)を使用しています。

3D光学プロファイラーとCMM - Contour CMMのWLI計測テクノロジーは非常に高い垂直方向と水平方向の分解能を提供し、正確度の高いステージと組み合わせて、幾何空間内の既知の位置でナノスケールの表面粗さを非接触で計測できます。

計測データの連続 – Contour CMM は強力な計測データ連続機能を備えているため、標準的な工業用途の表面粗さの計測から幾何寸法および公差(GD&T)分析までを実行できます。

表面のテクスチャーと粗さのデータ - 真の3次元空間で

3D表面粗さの表示 - Contour CMM は独自の方法を使用して、表面テクスチャーマップを真の3D空間に表示します。

このビデオでは、直径10 mmの球を計測し、Vision Dimensionsソフトウェアで表示しています。3D表面テクスチャーを茶色で示し、次に表面粗さのマップを適用してから、球を疑似カラーで表示して、3D部品の局所表面粗さを示します。

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詳細のお問合せ

幾何寸法分析と検査レポート

真の3Dデータと分析 - Contour CMM では、干渉法の表面データを使用して点集合を捕捉することができ、そのデータ点を3D幾何空間に表示します。

幾何学的な形状の捕捉 - Contour CMMのVision Dimensionsソフトウェアに含まれるDimensional Metrology Interface Standard(寸法計測インターフェイス標準:VisionDMIS)モジュールにより、パーツプログラミングで5軸ステージングシステムを高い正確度で制御でき、表面計測の位置データを収集できます。
形状の分析 – VisionDMIS は、標準の3D形状および寸法を分析する強力な機能を備えており、CADの比較やデータの検査レポートの作成ができます。

精密加工用途

精密加工部品の分析

Contour CMM は、小型の精密加工部品の幾何学的特徴の計測に最適であり、Vision Dimensionsソフトウェアと共に使用して、線、角度などの重要な寸法を迅速かつ高い正確度で計測できます。

さらに、VisionDMISソフトウェアは、高密度かつ正確な表面計測から部分座標系を作成します。この座標系を使用して、標準のGD&T分析を実行できます。

問い合わせ

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医療用途

整形外科インプラントと医療用部品の分析

Contour CMM は干渉法による表面データを使用して点集合を捕捉し、3D幾何空間に表示して、真の部分座標系を作成します。これらをVisionDMISモジュールで分析して、従来のGD&T分析を実行できます。

Vision Dimensions ソフトウェアは重要な寸法計測を実行するため、3D部品の重要な寸法、およびその部品の選択領域の粗さパラメーターを即座に分析できます。

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