D8 ADVANCE, X-ray diffraction

D8 ADVANCE シリーズ

D8 ADVANCEは数多のXRD分析用途に適切に対応するべくデザインされた芸術品です。すべての測定モードに対して、一切の妥協なく、専用もしくは多目的コンポーネントを自由自在に組み合わせることができます。

いわゆるDAVINCIデザインにより、すべての要望に対し、コンポーネントの(再)設定を容易に実現します。その拡張性は、未来の分析技術をご提供します。

多目的ソリューション

D8 ADVANCE Eco

01980 Gera et 0006 5 850x850

試料雰囲気制御にも対応した粉末XRD装置のエントリーモデル

D8 ADVANCE Twin

Gonio XYZ 7 Brochure page15 left UND page20 21 powder 850x850

ソフトウェア操作のみで集中法と平行ビーム法を簡単切り替え、粉末試料から非晶質・多結晶薄膜測定に対応した多目的装置

D8 ADVANCE Plus

02630 Goniometer 19 HR XRD red dot 850x850

エピタキシャル薄膜を含むすべての試料を網羅する比類のないシステム


専用ソリューション

XRD²用 D8 ADVANCE 

02630 Goniometer14 XRD2 850x850

2θとγの情報を有する最先端の2次元XRD(XRD2)により、すべての材料特性を明らかに

残留応力評価用 D8 ADVANCE

02630 Gonio XYZ 1 Stress 850x850

機械加工部品やバルク試料、薄膜試料の残留応力・集合組織(配向)状態を解析するエキスパートXRDシステム

D8 ADVANCE 構造決定モデル

02074 D10 komponenten4b 850x850

TOPAS によるRieteveld解析を含む粉末X線回折(XRPD)、散漫散乱または全散乱測定(PDF解析)、および小角X線散乱(SAXS)を網羅する構造決定モデル