D8 ADVANCE, X-ray diffraction

Dynamic Beam Optimization: DBO

Dynamic Beam Optimization(DBO)は、統計変動誤差とピーク/バックグラウンド比(P/B比)をかつてないほどに改善し、まったく新しい粉末XRDの世界を切り開きました。その上、ハードウェアの変更は一切必要としません。

きわめて高いエネルギー分解能を有する検出器 LYNXEYE XE-Tは、高速データ収集と試料由来の蛍光X線および入射光由来のKβ線を、効果的に除去します。

独自のVariable Active Detector WindowとMotorized Anti-Scatter Screen(MASS)は、余分な低角度のバックグラウンド散乱、特に空気散乱を大幅に低減し、極低2θ角からの測定に威力を発揮します。

加えて、統計誤差を低減する連続可変スリットとMASSを組み合わせることで、全角度範囲にわたって超高効率に回折強度を記録することができます。

  • 測定の高速化とサンプルスループットに貢献する極めて小さい統計変動誤差
  • 大きな格子定数を有する材料(例:製薬、粘土鉱物、ゼオライトなど)の低角ピークの検出に有利な超低バックグラウンド
  • 不純物ピークを検出する極めてすぐれたピーク/バックグラウンド比
  • 結晶相、および非晶質相に対応した完全定量アプローチを提供する DIFFRAC.TOPAS

D8 ADVANCE with DBO

Gonio XYZ 7 Brochure page15 left UND page20 21 powder 850x850

Dynamic Beam Optimization(DBO)は、粉末XRDのデータを再定義します

Motorized Anti-Scatter Screen: MASS

Motorized Anti Scatter Screen

自動ナイフエッジスクリーンであるMASSは、低角領域で空気散乱を、高角領域では強度の減衰を抑制します

DBOがもたらす、すぐれたデータ品質

Superior data quality with DBO

代表的なポルトランドクリンカーの標準試料(NIST SRM 8488)の測定データ(青: MASSなし、赤: MASSあり)。その他の条件は共通


TRIO - "3" in 1

まったく新しい TRIO™ 光学系は、D8 ADVANCE Plusの主要コンポーネントです。

TRIO™ は、XRD測定に広く用いられる3種の代表的な光学系を1つのモジュールで実現しました。

  • Bragg-Brentano光学系を実現する発散ビーム (XRPD)
  • キャピラリー測定や試料凹凸に不敏感な測定、表面敏感な視斜角入射測定(GIXRD)、膜厚評価(XRR)や微小部測定(μXRD)を実現する高強度平行ビーム
  • エピタキシャル薄膜や対称性の低い粉末試料の高分解能測定を実現するCu Kα1平行ビーム

3つの光学系を切り替えるには、モジュールの載せ替えは必要ありません。DIFFRAC.Measurementソフトウェア上のメニューを選択するだけで、すべての光学系が自動的に切り替わり、適切な状態に自動的にセットされ、ユーザーの利便性が大幅に向上しています。

D8 ADVANCE Plus with TRIO

02630 Goniometer 19 HR XRD 850x850

Bragg-Brentano光学系

02630 SG 72 Trio Euler Twin LynxXET MON1 Powder 850x850

粉末XRD測定に適したBragg-Brentano光学系

HRXRD光学系

02630 SG 73 Trio Euler Twin LynxXET90 MON1 HR 850x850

エピタキシャル薄膜に適した高強度・高分解能2結晶チャネルカットモノクロメータ高分解能光学系

GIXRD光学系

02630 SG 71 Trio Euler Twin LynxXET MON1 GID 850x850

多結晶薄膜測定に効果的な視斜角入射光学系(すれすれ入射光学系)

XRR光学系

02630 SG 68 Twin XYZ KEC Twin LynxXET90 MON1 850x850

0.1nmから250nmの膜厚に対応したX線反射率光学系


DAVINCIデザイン - 簡単操作の大前提

DAVINCIデザインは、D8 ADVANCE独自のモジュラーシステムを支える基本コンセプトです。

X線管球、各種光学系、サンプルステージから検出器まで、はじめての方でもあらゆるビーム光学系からからほかの配置に変更することができます。結果、D8 ADVANCEは、X線回折のあらゆる用途に比類のない適応性を提供します。

  • TWINおよびTRIOモジュールがもたらすPush-Buttonソフトウェア光学系切り替え
  • 専用光学系や波長を柔軟に行き来するSNAP-LOCK機構
  • リアルタイムコンポーネント認識とバーチャル回折計表示
  • 日常の測定を容易にするサンプルホルダー群と調整機構
01980 Detail 0041 850x850

SNAP-LOCK光学系切り替え

01980 Screen Davinci 3

TWIN/TRIOモジュールの

Push-Button切り替え


お墨付きのベストな装置品質

01980 Goniometer frontal back 850x850
  • 最新のNIST SRM 1976 α-Al2O3セラミックスプレートによる光学系アライメント保証
  • 堅牢かつメインテナンスフリーのゴニオメーターが、装置性能の屋台骨
  • 製薬業界向けなどのIQ/OQ完全準拠
Instrument alignment