D8 DISCOVER Plus, X-ray diffraction

高分解能粉末XRDを用いた格子歪みと微構造解析

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反射法配置における高強度平行ビームは、集中法光学系を用いた際に回折ピークをシフトさせる要因となる不均一な表面やサンプル高さ誤差の影響を除外した測定に有効です。

平行ビーム光学系は試料の高さ誤差に不敏感であるため、ピーク位置から格子定数を正確に決定する目的に即しています。これは、結晶材料における格子歪みの正確な評価に適しています。

このレポートでは、ATLAS™ゴニオメーターと高効率X線源 TXS-HE を搭載したD8 DISCOVER Plusを使用して、単色Kα1線による高分解能粉末回折データの収集を可能にし、極小さい格子歪みの解析事例を紹介しています。

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