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D8 DISCOVER Plus

D8 DISCOVER Plusは、X線回折プラットフォームのフラッグシップです。比類ない精度を実現したATLASゴニオメーターと選べる高性能X線源をベースに、さまざまな光学系ユニット、アタッチメント、検出器に加え、新しいNon-Coplanarアームオプションを組み合わせることができます。D8 DISCOVER Plus - 妥協のないパフォーマンスと高い柔軟性のハーモニー

D8 DISCOVER Plus プレスリリースの詳細は、こちらをご覧ください。

  • 面内X線回折測定においても優れた精度を実現する高精度Non-Coplanaraアーム
  • 業界随一の角度精度を保証した堅牢ATLASTMゴニオメーター
  • 6 kW高効率X線源(TXS-HE)が実現するラインおよびポイント焦点アプリケーション
  • mmサイズのサンプルに適した新しいMONTELPlus光学系を備えた微小焦点IμS線源
  • 多彩な光学系ユニット、アタッチメント、検出器との完全な互換性

多目的ソリューション

Setup 001 850x850

極薄膜解析を実現する究極のパフォーマンス:微小焦点IμS線源とNon-Coplanarアームを搭載したD8 DISCOVER Plusは、すれすれ入射面内測定 (IP-GID) において最高のデータ品質を実現します

Setup 004 850x850

材料評価における究極の柔軟性:焦点切り替え機構搭載TWIST-TUBE管球とNon-Coplanarアームを搭載したD8 DISCOVER Plusは、パフォーマンスを損なうことなく高度な分析性能を提供します

D8 DISCOVER Plus power materials research 850x850

TXS-HE搭載D8 DISCOVER Plus:粉末から多結晶膜またはエピタキシャル膜に至るまで、あらゆる種類のサンプルに最適な高出力材料評価XRDソリューション

TU Delft setup with spring 850x850

高精度μXRD²用D8 DISCOVER Plus:ATLASゴニオメーターと微小焦点IμS線源、マルチモードEIGER2検出器の組み合わせにより、究極のパフォーマンスを備えた微小部XRDソリューションが実現します


専用ソリューション

結晶構造解析用D8 DISCOVER Plus

D8 DISCOVER Plus for Structure Analysis 850x850

TOPASソフトウェアによるRietveld解析、散漫散乱および全散乱を用いたPDF解析、および小角X線散乱 (SAXS) を含む粉末X線回折 (XRPD) を用いた構造解析

薄膜分析用D8 DISCOVER Plus

D8 DISCOVER Plus for Thin Film Analysis 850x850

拡張光学ベンチの搭載で、X線強度と分解能のバランスを最適化することができます - 所望のサンプル情報を得るために、システムを最適化し高品質なデータを取得

超平行度X線を備えたD8 DISCOVER Plus

D8 DISCOVER Plus for Beam Conditioning 850x850

さらなる拡張光学ベンチは、4結晶モノクロメーター (Bartels配置) を含むさまざまな光学系でX線平行度をさらに高度化