D8 DISCOVER, X-ray diffraction

D8 DISCOVER

D8 DISCOVER X線回折プラットフォームは、使いやすいプラグアンドプレイ操作を実現する先駆的な回折計設計を特長とし、多様なニーズや複数ユーザー環境、先進的な研究用途に適しています。

  • X線源、光学系、サンプルステージ、検出器 といった他に類を見ないポートフォリオ
  • 迅速かつ高い付替え再現性を実現するSNAP-LOCK光学系脱着機構
  • 搭載された光学系ユニットに応じて自動的に最適化されるリアルタイム認識機構

多目的ソリューション

D8 DISCOVER XRD2 Detail Phase ID and Quantification 3 850x850

D8 DISCOVER多目的X線回折ソリューション:多様な薄膜アプリケーションを実現するTWIST-TUBE封入管球およびSNAP-LOCK光学系ユニット。受光側PATHFINDER光学系は、測定用途に応じた分解能を任意に切り替える3つの光学素子を備えています。

170301 256 850x850

高輝度IμS線源と最新鋭HPC検出器EIGER2をシームレスに統合した微小領域多目的ソリューション。薄膜分析から材料研究まで、微小部分析にすぐれた柔軟性を提供します。


専用ソリューション

面内X線回折用D8 DISCOVER

D8 DISCOVER for ip GID 850x850

最先端のすれすれ入射面内回折(IP-GID)機能を備えたこのXRDソリューションは、さまざまの薄膜分析アプリケーションを完全にカバーします。

残留応力解析用D8 DISCOVER

D8 DISCOVER for stress 850x850

大面積2D検出器と多彩なマッピングを実現する大型サンプルステージの組み合わせが、高速かつ柔軟性の高い残留応力解析システムを構築します。

高スループットスクリーニング用D8 DISCOVER

D8 DISCOVER for HTS 850x850

反射または透過配置に対応した高スループットスクリーニング(HTS)システム。比類のないデータ品質と測定スピードを実現します。