NANOSTAR, Small Angle X-ray Scattering System

最高レベルのモジュールデザイン

NANOSTARは、フレキシブルなモジュール式装置で、小角散乱法により1 から125nmまでのナノ構造解析、GISAXSによる表面解析など最高性能を誇る小角X線散乱装置です。


2次元人工多層膜ミラーとピンホール光学系による、強度平行ビームにより、短時間での測定が可能となりました。また、平行ビームを用いることによりビーム発散を抑えることができ、大きな構造の解析が可能となりました。

NANOSTARは、2次元検出器により等方性・非等方性の試料測定が可能です。試料―検出器間距離は11.5mm~1070mmと可変、小角測定から広角測定に対応します。また、イメージングプレートを用いることで小角・広角同時測定にも対応します。

装置構成

  • フレキシブルなモジュール構成
  • X線源の選択:空冷型微小焦点X線源IμS、高輝度ローテティングアノードTXS、超高輝度METALJET
  • 2次元人工多層膜ミラーMONTEL + ピンホール(高輝度/高分解能 切替)
  • 3ピンホール光学系 または寄生散乱フリーピンホール SCATEXによる2ピンホール光学系
  • 大型試料室
  • リアルタイムフォトンカウンティング大型2次元PSDVÅNTEC-2000
  • 試料-検出器距離可変

詳細情報

GISAXS with NANOSTAR – a Synchrotron Method in the Lab PDFラボレポート

NANOSTAR – Small Angle X-ray Scattering Solutions PDFカタログ