software, X-ray diffraction, DIFFRAC.SUITE

DIFFRAC.TOPAS

Rietveld解析のベンチマーク

Using TOPAS Software, XRD
Using TOPAS

DIFFRAC.SUITE TOPASDIFFRAC.SUITE TOPASは新世代のRietveld解析ソフトウェアです。Rietveld法の基本原理は1960年代後半に発表されました。オランダの結晶学者Hugo Rietveldが、中性子を用いた完全な粉末回折パターンを利用したコンピュータによる解析手順を考案したのです。

基本的に、Rietveld法はプロファイル関数と最小二乗法アルゴリズムを使用して、測定されたパターンに計算されたパターンをフィッティングします。

Rietveldの功績により、中性子線およびX線データを用いた粉末回折から詳細な結晶構造情報を得ることが可能になりました。現在、Rietveld法は構造解析にとどまらず、多相混合物の定量分析やサイズと歪を含む結晶子の微細構造の解析にも利用されています。

DIFFRAC.TOPAS - 最高のパターン解析ソフトウェア

DIFFRAC.SUITE TOPAS Software, XRD
DIFFRAC.SUITE TOPAS

コンピュータの性能向上に伴い、Rietveld法が広く使用されるようになったものの、専門知識とケースに応じた細かい調整が必要でした。1999年に導入されたTOPASのファンダメンタルパラメーター法がこれを一変させました。TOPASの成功の鍵はRietveld法固有の課題を解決することでした。

  • パラメーターの精密化において、面倒なシーケンスは不要
  • 不十分なプロファイル関数の不要化
  • 初期パラメーターが曖昧な場合でも安定した高速・正確なフィッティングが可能

このように、TOPASは新世代のプロファイルフィッティングソフトウェアとしての地位を確立し、約3,000のユーザーベースを持つ業界標準のRietveld解析ソフトウェアになっています。