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DIFFRAC.XRRソフトウェア - 詳細

 

スキャンデータの表示と解析処理

  • XRRプロファイルの特徴を把握できるのq4-I(q)表示
  • 統計変動誤差のエラーバー表示機能
  • 論文投稿に対応したグラフのためのグラフィックスとテキスト設定の変更
  • 強度スケールの平行移動と係数倍
  • 2θまたはq空間での平行移動と係数倍
  • スキャンデータの合算、減算機能
  • スキャンデータの規格化、結合機能

 

サンプルモデルとサンプルデータベース

  • 新しいサンプルモデルの作成を容易にする、マテリアルデータベースの統合
  • 人工超格子構造を含む多層膜サンプルモデルの定義
  • 自由に定義できる変数と数式エディタを含むサンプルパラメータの柔軟なリンク機能
  • 界面ラフネスを定義のための様々なモデル: 誤差関数、tanh、sin、または線形関数

 

マテリアルデータベース

  • 非晶質材料および4元系化合物までの混晶を含む結晶質材料のサポート
  • 230すべての空間群、格子定数、個々の原子またはイオンのWyckoff座標による結晶構造の包括的な定義
  • 高次または低次の結晶対称性への変換機能
  • 侵入や情報深さ、発散、吸収などのX線特性の計算機能
  • .cif および .str ファイル形式の結晶構造のインポートとエクスポート
  • 広いX線領域における任意の波長の構造因子計算

 

データ変換とレポート機能

  • 2クリックまたは完全自動レポート作成機能
  • .pdf または .docx 形式のカスタマイズ可能な分析レポートファイルの作成または直接印刷機能
  • レポートテンプレートの作成と保存
  • Windowsアプリケーションへと互換性のあるグラフィックス出力機能:コピー&ペースト、.bmp、.jpg、.pngファイルで出力

 

モデルフリー解析とモデルベースフィッティング解析

  • リアルタイム膜厚解析を実現するFFT変換機能と膜厚ピーク自動認識機能
  • 正確なXRRシミュレーションを実現する Recursive Matrix Formalism: RMF
  • ラフネスの大きい薄膜からのXRRプロファイルを計算する有効密度モデル (Effective Density Model: EDM)
  • 人工超格子構造などの計算を劇的にスピードアップする特許技術のMethod of EigenWaves (MEW)
  • 高速で精密なフィッティングを行うさまざまな最適化アルゴリズム:Levenberg-Marquardt, Quasi- Newton法, Nelder-Mead, 拡張Genetic Algorithm

 

ワークフロー機能

  • ワークフローレコーダー機能による、簡単で早い新規ワークフローの作成
  • ステップバイステップ実行機能
  • バッチ処理によるワークフロー実行機能
  • ワークフローパラメーターをユーザーが任意に最適化するオン・デマンド機能

 

対応OS

  • Windows 8, 8.1, 10 (32-bit または 64-bit)

 

対応言語

  • 英語