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蛍光X線 (XRF)

元素分析、プロセス・品質管理

蛍光X線分析法 (XRF) - 液体、固体、粉末いかなる試料形状にも関わらず、様々な試料の元素分析を行うための分析技術のひとつです。

XRFは、ベリリウム (Be) からウラン (U) までの元素をシンプルかつ迅速な試料調製により、100%からサブppmレベルまでのダイナミックレンジを高い精度、正確性で分析することが可能です。

エネルギー分散型蛍光X線分析装置 (EDXRF) は、使いやすさとコンパクトな点で品質・プロセス管理用アプリケーションに最適です。また、研究用途やモニタリング業務に対応する柔軟性も有しています。

波長分散型蛍光X線分析装置 (WDXRF) は、比類のない正確さ、精度、信頼性で知られています。この堅牢な分析技術は、セメント、ポリマー、製油所、鉱業、工業用ミネラルなど、あらゆる種類の産業用途に活用されています。

 

XRFの仕組み - 詳細はこちら

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