eFlash HD
거의 2메가픽셀(1600 x 1200픽셀)의 기본 CCD 해상도와 왜곡을 최소화할 수 있는 최첨단 카메라 광학 상태를 갖춘 새로운 eFlash HD 검출기는 최고급 디테일을 표시하는 고화질 키쿠치 패턴을 제공합니다. eFlash HD는 잔류 균주 분석(HR-EBSD)을 위한 완벽한 선택입니다. eFlash HD 고품질 패턴이 포함된 데이터 집합은 CrossCourt4와 같은 타사 소프트웨어와의 상호 상관 관계 분석에도 이상적입니다.
일반적인 응용 프로그램
- HR-EBSD (잔류 균주 분석)
- 매우 정확한 위상 식별
- 결정 구조의 의사 대칭 분석
이전 버전(eFlash HR)과 비교하여 새로운 eFlash HD 검출기는 CCD의 어두운 전류를 4배 감소시키는 향상된 냉각 시스템을 특징으로 합니다. 따라서, 생성된 기쿠치 패턴은 이제 더 높은 신호/잡음 비율을 포함하여 더 나은 품질입니다.
새로운 eFlash HD 검출기는 고효율 및 고품질 인광 화면을 사용하여 높은 상세한 키쿠치 패턴을 획득합니다. 고픽셀 해상도의 CCD 칩과 작은 입자 크기의 인광재의 조합은 패턴에서 볼 수 있는 매우 작은 변화를 만드는 20 μm 패턴의 최종 픽셀 크기를 보장합니다.
eFlash HD의 고정밀 가이딩 시스템은 10μm보다 화면 위치 정밀도를 더 잘 할 수 있습니다. 따라서 새로운 eFlash HD는 화면 이동을 기반으로 하는 방법을 사용하여 패턴 센터 교정을 실행하는 데 가장 적합한 솔루션입니다.
eFlash HD는 ARGUS™ 포산제/백산전자 이미징 시스템에서 사용할 수 있습니다. 이를 통해 검출기의 다재다능함을 높이고 의미 있고 효율적인 미세 구조 특성화를 위한 귀중한 추가 정보를 제공합니다.
새로운 eFlash HD는 또한 가능한 최고의 샘플 검출기 기하학에서 전자 투명 샘플을 분석하기 위한 독특한 OPTIMUS™ TKD 검출기 헤드로 개조할 수 있습니다.
