MATRIX F-Kopie

온라인(On-line) FT-NIR 분석

수상 경력에 빛나는 MATRIX-F FT-NIR 분광계는 프로세스 반응기 및 파이프라인에서 직접적인 측정이 가능하여, 프로세스를 더 잘 이해하고 제어할 수 있습니다.

  • 몇 초 안에 정확한 인라인(In-line)결과
  • 측정당 다수 구성 요소
  • 비파괴적 분석
  • 내장형 6포트 멀티플렉서(선택) 
  • 직접법 전송
  • 튼튼한 설계
  • 이더넷 연결 및 산업 표준 통신 프로토콜

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실시간 FT-NIR

실시간 온라인(On-line) 분석의 이점은 잘 알려져 있습니다. 그러나 기존 분광계는 모니터링하고 있는 프로세스에 근접하게만 설치가 가능하기 때문에, 급격한 온도 변화, 먼지/때 노출 등과 같은 불리한 환경에 분석기가 노출됩니다. 또한 접근이 어렵고 종종 폭발 보호 구역에 기기를 배치해야 합니다.

광섬유 기술을 사용함으로써 산업용 경화 광섬유 프로브를 통해 접근이 어려운 측정점에 접근할 수 있으며, 분석실 등에 MATRIX-F를 배치합니다. Bruker Optics는 다양한 온라인(On-line) 분석 업무를 위한 완벽한 솔루션입니다.

최대 유용성

MATRIX-F는 발광 섬유 기술을 이용해 한 대의 기기만으로 접촉식, 비접촉식으로 물질을 측정할 수 있는 유일한 FT-NIR 분광계입니다.

 

  • 광섬유 프로브 : 프로세스 플로 셀 또는 시험공장 어셈블리뿐만 아니라 경로 길이가 다양한 전형적인 확산반사, 투과반사 또는 투과 프로브를 사용할 수 있습니다. 스테인리스 강 또는 하스텔로이와 같은 다양한 프로브 재료를 사용할 수 있습니다.
  • 비접촉 측정을 위한 헤드 : 광섬유 NIR 조도 감지 헤드에는 샘플을 비추는 텅스텐이 포함되어 있습니다. 분광계에 연결된 광섬유 케이블을 통해 산란광을 수집 및 인도합니다. 이렇듯, 원격으로 비접촉 측정을 할 수 있어, 새로운 용도로 폭넓게 이용이 가능합니다. 최대 6개의 헤드를 한 대의 MATRIX-F 방출 분광계 또는 MATRIX-F 듀플렉스 분석계에 연결할 수 있습니다.