欠陥観察・表面計測による課題可視化ソリューション

欠陥観察・表面計測による課題可視化ソリューション

Webinar JP AXS BNS - 2020Sep17
ウェビナー開催日: 9月 17th 2020

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Overview

この度ブルカージャパンでは、ブルカーX線事業部とナノ表面計測事業部の共催でウェビナーを開催する運びとなりました。本ウェビナーでは研究・開発・評価・生産管理などで活躍する材料内部の破壊や劣化評価や観察が可能なX線CTシステムと表面の微小な形状を高分解能で計測・観察が可能な3D白色干渉計のそれぞれの原理・活用事例などを交えてご紹介致します。

<プログラム>
日程:9月17日 13時30分~14時30分
プレゼン①
「非破壊で内部構造観察ができるX線CTの原理と測定例」
X線CTは、3D X線顕微鏡とも呼ばれ、マイクロオーダーの内部構造を非破壊で3次元情報として観察・評価できる画期的な手法です。電子材料や医薬医療の分野の研究開発・品質管理などに幅広く活用されています。本ウェビナーでは、その原理と実際の測定例をご紹介いたします。
プレゼンター:X線事業部 アプリケーション部 中山悠

プレゼン②
「非破壊・非接触で表面性状が観察できる白色干渉計の原理と測定例」
白色干渉計はナノオーダーで表面性状の評価を計測するツールの一つです。測定時間も短く、非破壊・非接触により抜き取り検査ではなく、ライン検査としても使用可能。本ウェビナーで白色干渉計の基礎から、5Gをサポートするような電子基板、医療医薬分野のサンプル例をご紹介します。
プレゼンター:ナノ表面計測事業部 アプリケーションエンジニア 寺山剛司

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This webinar is held in Japanese.