HYPERION 3000 FTIR Microscope head

HYPERION mikroskopy FT-IR

Mikroskop HYPERION to efekt ponad 30 lat doświadczenia w mikroskopii FT-IR. Wysokiej jakości konstrukcja, włączając w to optykę, części mechaniczne oraz komponenty elektroniczne, zapewnia wysoką stabilność i niezawodność. Wyposażony w narzędzia do zwiększania kontrastu, szeroką gamę dedykowanych obiektywów, oferujący obrazowanie chemiczne, mikroskop HYPERION umożliwia wykonywanie czułych microanalysis w prosty i efektywny sposób. Modułowa konstrukcja sprawia, że HYPERION może zostać dostosowany do specyficznych wymagań aplikacyjnych. Posiada szerokie możliwości zastosowania włączając w to badania materiałowe, polimery, chemię, kryminalistykę, konserwację sztuki i life science.

[Bitte nach "Polish" übersetzen:]

Sensitivity, Lateral resolution

The lateral resolution power of the HYPERION is only limited by diffraction of the incident light. Due to the high light-throughput a very high sensitivity is reached even at the highest lateral resolution.

The infrared beam path in the HYPERION is confocal. Apertures can be placed in conjugate image planes individually before and after the sample in transmission as well as in reflection. In the standard configuration, the HYPERION is equipped with a single transparent knife-edge aperture. Metal knife-edge apertures, iris apertures and aperture wheels are available as well as automatic, software-controlled knife-edge apertures.

[Bitte nach "Polish" übersetzen:]

Sampling flexibility

For FT-IR microscopic analysis in transmission, most samples must be optically thin and are typically cut in sections about 5–15 μm thick. If samples are deposited on reflective substrates, they are measured in reflection. As standard a 15x objective is used or as alternative for smaller samples more focussing objectives (20x, 36x) can be employed. However, because many samples are not transparent or reflective, they can be readily analyzed utilizing the attenuated total reflection (ATR) mode.
The dedicated ATR objective (20x) for the HYPERION combines a visual sample inspection without restrictions with highest sensitivity of the IR measurement. To be useful for samples ranging from soft to very hard, different pressures can be selected at the ATR objective. The internal pressure sensor reproducibly ensures optimal contact between the sample and the crystal even during automated ATR mapping measurements.

The measurement of very thin coatings on metallic surfaces often requires the grazing angle incidence reflection technique that enhances the interaction of the infrared light with the sample. Due to its patented design Bruker's grazing angle objective (GAO) achieves a very high sensitivity that even allows analyzing mono-molecular layer. Furthermore measurements with polarized light are possible.

Zakres spektralny

Zakres spektralny mikroskopu HYPERION może zostać rozszerzona z zakresu średniej podczerwieni do zakresu bliskiej podczerwieni (NIR) oraz zakresu widzialnego (VIS, do 25,000cm-1), a także regionu dalekiej podczerwieni (FIR, do 80 cm-1). Do pokrycia tak szerokiego zakresu spektralnego, koniecznym jest wykorzystanie różnych detektorów, które są wymienione w prosty sposób przez użytkownika. HYPERION może zostać wyposażony w dwa detektory jednocześnie, których kontrola odbywa się z poziomu oprogramowania.

TENSOR II ATR Microscope

Spektrometr FT-IR TENSOR II połączony z mikroskopem FT-IR HYPERION 3000

 

 

[Bitte nach "Polish" übersetzen:]

Software

The HYPERION is controlled by the OPUS software: an easy-to-use, powerful, all-in-one spectroscopy software. It includes the most comprehensive collection of data acquisition, processing, and evaluation functions. The software user interface can be customized for routine laboratory analysis as well as advanced R&D applications.

All resultant spectra, visual images, IR images, RGB and PCA plots, and annotations are stored within one file to ensure data integrity and make data manipulation straightforward.

Data acquisition using the HYPERION is very easy to accomplish, as it is guided by attractive wizards (OPUS 7.0). Many univariate and multivariate algorithms are implemented in OPUS to extract the relevant information out of the measured single or 3D data. Resulting IR images can be displayed in different 2D and 3D perspectives on top or beside the visible image.

Diagnostyka

Mikroskop FT-IR HYPERION pozyskuje wiarygodne dane. Technologia PerformanceGuard™ zapewnia ciągłą diagnostykę online, wyświetlanie statusu urządzenia w czasie rzeczywistym oraz automatyczne testy (OQ, PQ). Oprogramowanie OPUS pozwala na wykonywanie analiz FT-IR zgodnie z GMP i 21CFR-Part11.

Szerokie możliwości rozbudowy

Mikroskopy serii HYPERION to w pełni rozwojowe systemy do analizy optycznej i podczerwieni.

  • HYPERION 1000: mikroskop podczerwieni przystosowany do pracy w trybach transmisji i odbicia, wyposażony w aperturę typu knife-edge i manualny stolik xy. Posiada m.in. rewolwer wyposażony w obiektyw 15x typu cassegrain i obiektyw 4x vis, binokular oraz możliwość obserwacji video.
  • HYPERION 2000: w pełni zautomatyzowany mikroskop wyposażony w automatyczny stolik oraz ekran LCD wbudowany w system. HYPERION 2000 posiada wszelką funkcjonalność systemu HYPERION 1000.
  • HYPERION 3000: w pełni zautomatyzowany mikroskop do obrazowania FT-IR wyposażony w detektor ogniskowej matrycy. HYPERION 3000 posiada wszelką funkcjonalność systemu HYPERION 2000.

Request more information