VERTEX 80v-Kopie

Spektrometry VERTEX 80 i VERTEX 80v to systemy do zaawansowanych zastosowań badawczych. Innowacyjna optyka sprawia, że spektrometry VERTEX 80/80v to oferują najwyższe dostępne parametry. Dostępny jest zakres spektralny regionu od UV/VIS (50000 cm-1) do FIR/THz (5 cm-1), najwyższa rozdzielczość spektralna i najszersze możliwości rozbudowy.

Badania R&D

  • Techniki Continuous i Step Scan do pomiarów czasowo-rozdzielczych oraz spektroskopii modulacji amplitudy/fazy
  • Rapid, Interleaved i Step Scan do pomiarów z wysoką rozdzielczością czasową (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • Charakterystyka uporządkowanych okresowo materiałów mikroskopowych - metamateriałów
  • Wysokorozdzielcza spektroskopia gazów z rozdzielczością >0.06 cm-1
  • Metoda stopped-flow do eksperymentów katalizy enzymatycznej
  • Zewnętrza adaptacja do pomiarów w UHV
  • Spektroelektrochemia FT-IR do badań in-situ powierzchni elektrod i elektrolitów

Farmacja

  • Określanie konfiguracji absolutnej cząsteczek (VCD)
  • Charakterystyka stabilności i zawartości lotnej leków przy wykorzystaniu analizy termicznej (TGA-FTIR)
  • Różnicowanie form polimorficznych API w zakresie dalekiej podczerwieni

Polimery i chemia

  • Identyfikacja wypełniaczy nieorganicznych w kompozytach polimerowych w dalekiej podczerwieni
  • Dynamiczne i reooptyczne badania polimerów
  • Oznaczenie związków lotnych i charakterystyka procesów dekompozycji przy użyciu analizy termicznej (TGA-FTIR)
  • Monitorowanie przebiegu reakcji (sonda światłowodowa MIR)
  • Identyfikacja pigmentów i minerałów

Analiza powierzchniowa

  • Detekcja i charakterystyka cienkich warstw i monowarstw
  • Analiza powierzchniowa połączona z modulacją polaryzacji (PM-IRRAS)

Inżynieria materiałowa

  • Charakterystyka materiałów optycznych i wysokorefleksyjnych (okna, lustra)
  • Badania ciemnych materiałów oraz profili głębokościowych przy użyciu spektroskopii fotoaktustycznej (PAS)
  • Charakterystyka emisyjności materiałów

Półprzewodniki

  • Określanie zawartości tlenu i węgla w waflach krzemowych podczas kontroli jakości
  • Niskotemperaturowe pomiary transmitancji i fotoluminescencji (PL) do kontroli jakości zanieczyszczeń śladowych