HTS XT-Kopie

HTS-XT

Rozszerzenie HTS-XT pozwala na zastosowanie spektroskopii FTIR jako metody dla wysokowydajnego badania przesiewowego. Pozyskiwanie, kontrola oraz ewaluacja danych z dużej liczby próbek prowadzona jest przez oprogramowanie OPUS/LAB. HTS-XT jest modułem zewnętrznym, który może zostać połączony ze spektrometrami FTIR Bruker Optics. W zależności od konfiguracji może być wykorzystywany do pomiarów w zakresie średniej i bliskiej podczerwieni oraz VIS.

Płytki do analiz IR odpowiadają standardowym płytkom mikrotestowym w wersji 96 lub 384 dołków. Do analizy umieszcza się około 1-20 µl próbki ciekłej w płytce i suszy. Objętość próbki zależy od jej formy, trybu pomiaru oraz samej płytki. Próbki w formie stałej są pierwszej kolejności suszone i mielone przed umieszczeniem w płytce. Załadowane płytki są wsuwane do uszczelnionej optyki za pomocą automatycznej szuflady. Pomiar mikropłytki przeprowadzany jest pełni automatycznie w transmisji i/lub refleksji poprzez sukcesywne jej przesuwanie na każdą pozycję pomiarową w fokusie wiązki podczerwieni. 

Uzyskaj więcej informacji