INVENIO R

O INVENIO R adapta-se perfeitamente às necessidades de aplicações de I&D nas quais são exigidas alta sensibilidade, resolução espectral ou temporal, estabilidade, flexibilidade e capacidade de actualização. A ampla gama espectral disponível, várias opções de validação, painel táctil integrado, canal de transmissão MIR TransitTM, até 7 detectores internos selecionáveis ​​por software, fácil troca de componentes ópticos e muitas outras características únicas tornam o trabalho diário em investigação analítica e industrial fácil e confiável .

Investigação e desenvolvimento

  • Tecnologia de Varrimento Contínuo Rápido por Passo para espectroscopia resolvida no tempo, assim como e modulação de amplitude (AM) (Step Scan/Rapid Scan/Interleaved TRS)
  • Espectroelectroquímica de FTIR para a investigação in-situ de superfícies de eléctrodos e electrólitos
  • Experiências de baixa temperatura, por ex. na física do estado sólido
  • Investigação de proteínas em água (CONFOCHECK)
  • Determinação da configuração absoluta de moléculas quirais  (VCD)

Pharma

  • Abrangente validação do sistema, fornecendo integridade de dados com uma base de dados moderna totalmente compatível com os regulamentos da FDA para laboratórios farmacêuticos
  • Caracterização da estabilidade e teor volátil de produtos medicamentosos por análise térmica (TGA-FTIR)
  • Diferenciação de polimorfos de ingredientes farmacêuticos activos na região do infravermelho longínquo (Bruker FM)

Polímeros e Química

  • Identificação de cargas inorgânicas em compósitos poliméricos na região do infravermelho longínquo  (Bruker FM)
  • Determinação de compostos voláteis e caracterização de processos de decomposição por análise térmica (TGA-FTIR)
  • Monitorização e controlo de reacções (sondas de fibra MIR)
  • Identificação de minerais e pigmentos inorgânicos
  • Estudos dinâmicos e reo-ópticos de polímeros

Análise de Superfícies

  • Detecção e caracterização de camadas (ultra) finas e monomoleculares
  • Análise de superfície combinada com modulação de polarização (PM-IRRAS)

Ciência dos Materiais

  • Caracterização de materiais ópticos e altamente reflectores (janelas, espelhos)
  • Investigação de amostras de solo com superfícies rugosas (DRIFT)
  • Caracterização do comportamento de emissão de materiais

    Semicondutores

    • Determinação do teor de oxigênio e carbono em pastilhas de silício para controle de qualidade
    • Medições de fotoluminescência na gama espectral do infravermelho próximo