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A microplaca extensão HTS-XT permite a utilização da espectroscopia FT-IR como método para triagem de alto rendimento. A coleta, controle e análise dos dados espectrais do grande de grande número de amostras são realizados pelo software OPUS/LAB. O OPUS/LAB também controla o dispositivo de empilhamento da microplaca que permite uma operação contínua do espectrômetro FT-IR por 24 horas. O HTS-XT é um módulo externo que pode ser conectado a diferentes conjuntos de espectrômetros FT-IR da Bruker Optics. Conforme sua configuração, ela pode ser usada para medições no infravermelho médio até o infravermelho próximo e até mesmo a faixa VIS.

As placas de amostragem para análises IR correspondem aos formatos padronizados de microplacas 96-, 384- ou 1536-. Para análise, aproximadamente 1-20 µl de uma amostra líquida são colocados e secos em uma posição única de amostragem da microplaca. O volume de amostra preparada depende do formato da amostra, modo de medição e design da placa de amostra. Amostras sólidas primeiro são secadas e moídas antes que sejam colocadas dentro de um recipiente de microplaca. A placa de amostra carregada é levada automaticamente para dentro do conjunto óptico selado por uma gaveta motorizada. A seguir, a medição da microplaca é realizada de maneira totalmente automatizada no modo de transmissão e/ou refletância mediante a sucessiva movimentação de cada amostra para o foco do feixe IR.

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