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Microscopia de Força Atômica para Substratos de Safira

Oferecendo recursos avançados de metrologia automatizada e produção com resolução superior, para as demandas atuais e futuras.

O Microscópio de Força Atômica Dimension Edge™ PSS da Bruker, com Software de Análise Metrológica AutoMET™, é o sistema de nanometrologia e nanoinspeção ideal para fabricantes de substratos para LEDs e crescimento epitaxial. Uma extensão da plataforma de MFA Dimension Edge, o Edge PSS incorpora o renomado valor e resolução dos sistemas MFA Dimension em uma solução