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Customer Service, Handheld XRF Spectrometry

EDS, EBSD e Micro-CT para MEV

QUANTAX EBSD

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Sistema QUANTAX EBSD

QUANTAX Compact

QUANTAX Compact teaser

The easy-to-use EDS system

AMICS Software

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Mineral Liberation Analysis

e-FlashFS

Eflash FS teaser

The fast and sensitive EBSD detector

e-FlashHD

Eflash HD teaser

The high definition EBSD detector

XFlash® 6 | 10

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A Melhor Resolução SDD

Analisadores ME

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Caracterização Avançada de Materiais em ME

XFlash® 6 | 30

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SDD  Altamente Eficiente e Versátil

XFlash® 6 | 60

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SDD com área grande para Nanoanálise

XFlash® 6 | 100

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O SDD com a maior área, para Aplicações de Baixa Corrente

ESPRIT

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O pacote de softwares analíticos ideal para EDS

ESPRIT Quant

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Quantificação Automática por Método sem Padrões

ESPRIT EQuant

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Opções de Análise Estendida

ESPRIT UQuant

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Quantificação Definida pelo Usuário

ESPRIT HSQuant

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Quantificação Híbrida

ESPRIT CLQuant

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Quantificação de Cliff-Lorimer

ESPRIT SpecMatch

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Função de Correspondência de Espectro

ESPRIT Map

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Mapeamento Digital Rápido

ESPRIT QMap

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Mapeamento Quantitativo 

ESPRIT HyperMap

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Imageamento Hiperespectral

ESPRIT AutoPhase

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Análise Automática de Fase

XFlash® 6T | 30

Icon XFlash® 6T | 30

Para MET Convencional e de Aberração Corrigida

XFlash® 6T | 60

Icon XFlash® 6T | 60

Grande Ângulo Sólido para Análise em Escala Atômica

Sistema de Detecção de FSE/BSE ARGUS™

ARGUS TEaser Icon

Imagens coloridas de microestruturas

TKD no MEV

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A Técnica de Difração em Transmissão de Kikuchi

Software ESPRIT EBSD

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Flexível e fácil de usar

QUANTAX EDS para MEV

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Poder analítico para microscópio eletrônico

XFlash® Tecnologia Silicon Drift Detector

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Webinários

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EDS, WDS, EBSD e Micro-XRF para MEV

Escolas de Usuários

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Treinamento em EDS

ESPRIT DynamicS

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EBSD Pattern Simulation

QUANTAX FlatQUAD

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Maximum Efficiency in X-ray Detection

ESPRIT 2 Quant

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TKD under optimal conditions

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