D8 DISCOVER, X-ray diffraction

Sistema Avançado de Difração de raios X para Aplicações em Pesquisa de Materiais

O D8 DISCOVER com design DAVINCI alia a facilidade de uso (com a detecção dos componentes em tempo real) à funcionalidade “ligue e analise”, totalmente integrados às capacidades analíticas da bidimensional XRD2. Estas características únicas garantem ao usuário uma maior flexibilidade analítica, permitindo uma alternância entre todas as aplicações de difração de raios X em pesquisa de materiais, tais como, reflectometria, difração em alta resolução, difração de incidência rasante no plano (IP-GID), espalhamento de raios X à baixos ângulos (SAXS), além de investigações de textura e tensão residual.

Assista nosso vídeo do D8 DISCOVER

Detector bi-dimensional VÅNTEC-500

Para um detector 2-D, o tamanho é a característica mais importante. Uma grande janela do detector não só permite maior velocidade de coleta de dados, mas também fornece informações que simplesmente não são acessíveis com detectores do tipo 0-D, 1-D ou pequenos detectores 2-D. O detector VÅNTEC-500 apresenta uma grande janela de 140 mm de diâmetro, cobrindo cerca de 80° (2θ) com um grande intervalo γ.

SNAP-LOCK Óptica de raios X para troca da geometria de difração totalmente livre de ferramentas

A óptica de raios X SNAP-LOCK, totalmente alinhada de fábrica, oferece uma verdadeira funcionalidade 'ligue e analise ", pois permite a troca da geometria da difração, de uma forma automática e livre de ferramentas, com uma mínima intervenção do usuário.

Um módulo de óptica de raios X, um detector ou qualquer outro acessório montado no equipamento, é registrado em tempo real com seus parâmetros relevantes e capacidades analíticas, incluindo a poderosa detecção de possíveis conflitos de componentes.

Assista nosso vídeo do D8 DISCOVER (XRD2)

Related Information