NANOSTAR, Small Angle X-ray Scattering System

Projeto Modular para resultados de topo de classe

O NANOSTAR com a sua modularidade inigualável é a ferramenta perfeita para a caracterização de nanoestruturas que variam aproximadamente de 1 nm a 125 nm, e superfícies nanoestruturadas por SAXS, GISAXS e Nanografia.

O sistema ótico composto por espelhos e colimadores tipo pinhole fornece uma altissíma intensidade, feixe de raios X paralelo tempos de medição tão curto que pode ser alcançado. Ao mesmo tempo , o sistema de colimação mantém uma forma circular perfeita do feixe e é muito eficiente na eliminação do ruído de fundo, o que permite analisar amostras que espalham pouco, bem como estruturas de grande porte.

Na verdade, o NANOSTAR analisa as propriedades pura da amostra, mesmo para sistemas de amostragem não isotrópico. O modelo modular permite definir a distância do detector-a-amostra de 11,5 mm até 1070 mm. Assim, toda a gama de SAXS a WAXS podem ser cobertos.

Características

  • Configuração modular para maior flexibilidade
  • Fontes de raios X de alto brilho: IμS, TXS e METALJET
  • Óptica MONTEL com o sistema de colimação pinhole itercambiável para alto fluxo/ alta resolução
  • Sistema de colimação de baixo-ruído utilizando o tradicional três-pinhole ou a nova configuração SCATEX dois-pinhole
  • Câmara de amostra grande acomodando uma variedade de suportes de amostras
  • VÅNTEC-2000, detector 2-D grande área com verdadeira capacidade de contagem de fótons
  • Distância amostra -a- detector variável cobrindo uma vasta faixa-q

Mais informações

GISAXS com NANOSTAR – Um Método Síncontron no PDF Lab Report

NANOSTAR – Baixos ângulos de dispersão de raios X, Catálogo em PDF

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