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Software EVA - Características

Opções de avaliação de dados gerais:

  • Pesquisa de picos e criação de dados de picos, por exemplo, para a identificação de fases
  • Subtração de ruído de fundo de forma manual e totalmente automática
  • Suavização de dados ( método Savitzky-Golay ou filtro de Fourier)
  • Remoção de Kα2 (método Rachinger melhorado)
  • Correções de deslocamento da amostra e desalinhamento em 2theta
  • Cálculo dos coeficientes de absorção de massa e da profundidade de penetração de raios X na amostra
  • Cálculo dos parâmetros de perfil, tais como posição de linha, centro de gravidade, área integrada, meia largura e muito mais
  • Determinação do tamanho de cristalito (método de Scherrer)
  • Adição, subtração, escalonamento, normalização e combinação de varreduras
  • Avaliação simultânea de múltiplas varreduras
  • Desfazer / Refazer para todas as operações

Análises de Grupos (Clusters)

  • Combinação de até quatro conjuntos de dados de XRD
  • Programa de Ponderação Automático
  • Cinco métodos de agrupamento
  • Ferramentas de validação de grupos
  • Métodos de análise customizáveis
  • Reprise de análises selecionadas
  • Dendrogramas interativos
  • Visão de Células
  • Diagramas MMDS em 3D
  • Diagramas PCA em 3D
  • Diagramas em 6D de informação sobre preparação da amostra
  • Resultados Numéricos
  • Identificação de fases amorfas
  • Padrões de referência para misturas
  • Modo de Controle de Qualidade
  • Gerador de Relatórios
  • Documentação on-line, Tutorial do Programa
  • Para mais detalhes, veja: Caracteristicas do Polysnap

Opções de relatórios e conversão de dados:

  • Criação de relatórios de análises customizáveis e de alta qualidade
  • Opções de conversão de dados de e para qualquer outra aplicação no Windows: copie e cole, Data Windows bitmaps e metarquivos
  • Exibição e impressão de todos os padrões dos bancos de dados de referência
  • Os dados podem ser exportados como arquivos de formato .raw Bruker, arquivos ASCII2 tipo coluna XY ou arquivos de 3 colunas XYE

Opções de exibição e avaliação de dados de XRD2 Avançado

  • Integração simples de frames em 2-D sobre gama e 2Theta com cursor em forma de linha, anel, cunha e na forma de frames completos
  • Integração de frames em 2-D, combinados, usando o cursor sob as formas de cortes e cunhas
  • Múltiplas integrações de grandes quantidades de frames em 2-D com um único clique
  • Máscaras configuráveis de usuários com coordenadas angulares ou de pixel
  • Análise “Rocking curve" em uma grande quantidade de frames em 2-D, usando várias propriedades dos frames
  • Os frames são automaticamente agrupados em listas habilitadas a serem combinadas ou empilháveis
  • Para grandes fatores de ampliação, a visão em 2-D exibe o número de contagens dentro das áreas dos pixels

Opções de exibição dos dados:

  • Interface do usuário auto-explicável e totalmente customizável para cada usuário individual
  • Opções avançadas de ampliação imagem-a-imagem (PIP) e Vertical-no-local (VIP)
  • Representações de dados em 2-D e 3-D totalmente customizáveis (exibição de iso-intensidades e gráficos em forma de cascatas)
  • Total customização das propriedades de textos e gráficos para criação e figuras prontas para publicação.

Opções de identificação e análise quantitativa de fases:

  • Suporta bancos de dados de referência como ICDD PDF2, ICDD PDF4 e COD
  • Busca simultânea em vários bancos de dados de referência
  • Pesquisa completa por padrões e por dados de picos
  • Busca por soluções sólidas e fases isoestruturais
  • Pesquisa altamente sofisticada por resíduos
  • Consideração de erros associados ao deslocamento da amostra e desalinhamento em 2-theta
  • Busca por vários critérios de seleção, tais como, composição química, qualidade de padrões, subarquivos e muito mais
  • Correção gráfica da posição de picos através do ajuste dos parâmetros de rede, como por exemplo, descrição de soluções sólidas
  • Gerador de índices hkl para cálculo da posição dos picos baseado nos parâmetros de rede e no grupo espacial, para auxiliar a identificação de picos ausentes ou redundantes em amostras
  • Sobreposição interativa dos resultados da busca com os dados da medida para fácil avaliação
  • Exibição das linhas dos padrões, bem como, marcas da escala tipo “Rietveld” com os respectivos índices hkl, se disponível
  • Análise quantitativa baseada em RIR (Relação de Intensidades de Referência) e em métodos de picos
  • Determinação do grau de cristalinidade
  • “Análise combinada de XRD e XRF”: Validação e melhoria da busca, bem como obtenção de resultados da análise quantitativa de fases usando resultados da análise elementar, com acesso direto aos banco de dados do SPECTRAplusXRF, arquivos no formato ASCII e muito mais.
  • Suporte de dados com tempo de contagem variável

Conformidade

  • 21 CRF Parte 11

Suporte de Idiomas

  • Chinês, Inglês, Francês, Alemão, Japonês
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