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LEPTOS S

O LEPTOS S é um módulo inovador, eficiente e abrangente para a análise de tensões residuais medidas por detectores 0D, 1D ou 2D usando os métodos sin2ψ clássico e XRD2 estendido. O módulo é totalmente integrado ao conjunto LEPTOS e herda toda a funcionalidade comum ao pacote inteiro.

LEPTOS S Software, XRD
É possível calcular os gradientes de tensão residual a partir dos múltiplos {hkl}, medidos à diferentes ângulos por incidência rasante. A absorção e a refração de raios X, assim como a espessura do revestimento, são consideradas no cálculo.

Avaliação de dados

  • Cinco métodos para encontrar uma posição de pico: Gravidade, Sliding Gravity, Parabólico, Pseudo-Voigt e Pearson VII
  • Recursos abrangentes de correção de dados: absorção, subtração da linha de fundo, correção da polarização, suavização e separação do Kα2
  • Banco de dados de materiais extensível pelo usuário, que inclui as propriedades elásticas dos materiais e as constantes elásticas dos raios X (XEC)
  • Cálculo do tensor de tensão na amostra e nas principais coordenadas para os modelos de tensão normal, normal e cisalhamento, biaxial, biaxial e cisalhamento e triaxial
  • Comparação dos métodos de XRD2 e sin2ψ usando uma ferramenta de integração
  • Mapeamento de área; avaliação automatizada de dados por meio da interface de script

Teoria

  • Método sin2ψ clássico e estendido e métodos de XRD2
  • Avaliação de tensões residuais de múltiplos {hkl}
  • Gradientes de tensão/deformação em revestimentos policristalinos finos

Saída

  • Exibição das regressões εφψ (sin2ψ), dφψ (sin2ψ) e 2φψ (sin2ψ)
  • Matriz de orientação angular entre o sistema de coordenadas principal e o da amostra
  • Visualização do elipsoide de Lamé
  • Os resultados são salvos em arquivos de projeto baseados em XML
  • Várias opções de relatórios e exportação personalizáveis