banner_surface_material_properties.jpg

Свойства материалов поверхности

Bruker предлагает быстрое количественное картирование высокого разрешения свойств материала поверхности для более качественной разработки материалов

Нанометрическое картирование свойств имеет некоторые важные преимущества для разработки новых материалов. Карты адгезии или эластичности позволяют идентифицировать компоненты композитов и анализировать взаимодействия между ними. Поскольку компоненты становятся все более мелкими, свойства взаимодействия обретают все большую важность для макроскопических свойств материала. При разработке тонких пленок картирование может предоставить информацию об однородности и других свойствах.

Атомно-силовые микроскопы (АСМ) Bruker обеспечивают усовершенствованные средства для измерения свойств поверхности материала. Возможности включают в себя быстрое количественное картирование высокого разрешения эластичности, адгезии, рассеяния и деформации, а также зависимые от времени измерения и характеризацию прочности и эластичности. Усовершенствованное ПО позволяет легко проводить анализ, визуализацию данных и создавать отчеты, максимизируя производительность.