sunglass.jpg

Химия поверхности

 

Методы ИК и КР спектроскопии позволяют определять химические свойства поверхностей. С помощью ИК или КР микроскопов можно получать химическое изображение поверхности с пространственным разрешением в несколько микрон.

Инфракрасная спектроскопия - эффективный метод анализа химического состава поверхностей. Слои на поверхностях измеряют методами отражения: нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО, анг. ATR) и отражения-поглощения (IRRAS). Бесконтактный контроль качества чистоты металлических поверхностей можно осуществить при помощи ИК-спектрометра ALPHA II.

КР-микроскоп SENTERRA II можно использовать для бесконтактного анализа покрытий, в том числе оптических просветляющих покрытий DLC или кремниевых. Конфокальность системы применяется для измерений поверхности катализаторов.