HYPERION II

Прежде всего, речь идет о полном доступе к инструменту. Полный доступ к эксперименту, образцам и параметрам. Это основа HYPERION II и его самый ценное свойство - обеспечение полного контроля.

Будь то FT-IR измерения в поточечном режиме, картирование или визуализация с различными детекторами или объективами, особенностями пробоподготоки или с помощью ATR или объектива Grazing Angle.  В любой момент вы можете повлиять на результат ваших измерений и сделать их лучше.

Это явное отличие от нашего ИК-микроскопа LUMOS II. Там, где LUMOS II избавляет пользователя от многочисленных настроек эксперимента  и автоматизирует процесс измерения, HYPERION II остается гибким инструментом, который делает только то, что требует пользователь.

Многие пользователи знают HYPERION II и его сильные стороны благодаря предшественнику. В течение почти 20 лет он был двигателем инноваций в ИК-микроскопии и визуализации. То что сделало HYPERION выдающимся FT-IR микроскопом, сохранили, сделав лучше, быстрее и совершеннее.

HYPERION II по-прежнему имеет все функции, необходимые для ежедневных исследований: жидкий азот и термоэлектрически охлаждаемые MCT, детекторы визуализации в фокальной плоскости, визуальные и инфракрасные инструменты улучшения когерентности и, конечно же, обилие специальных принадлежностей.

В результате мы хотели создать новый эталон в FT-IR-микроскопии и визуализации и соответствовать нашему званию лидера инноваций, внедряя новые и захватывающие технологии, сохраняя при этом устоявшиеся и ценные решения.

QCL и FT-IR в одном приборе

Впервые пользователи могут получить доступ к ИК-микроскопу, который сочетает в себе технологии FT-IR и QCL в одном приборе. Таким образом, мы открываем новую дверь для наук о жизни и исследования материалов.

Зарегистрируйте спектр FT-IR, выберите колебания, которые вы хотите исследовать с помощью QCL, и создайте потрясающие химические изображения за считанные секунды.

Благодаря этому совершенно новому подходу FT-IR и инфракрасной лазерной визуализации мы, наконец, даем пользователям, исследователям и ученым инструмент для разработки новых применений, а также для улучшения устоявшихся и проверенных методов.

Настоящий микроскоп QCL с исключительной производительностью

HYPERION II предлагает бескомпромиссную сочетание QCL микроскопии с современным FT-IR микроскопом. Фактически, мы специально разработали и запатентовали новую технологию снижения когерентности, чтобы обеспечить непревзойденную производительность ИК-лазерной визуализации - без цифровой постобработки.

Для примера: в классической FT-IR спектроскопии пространственная когерентность не играет роли. Однако в ИК-микроскопических измерениях с QCL неизбежно возникают явления нарушения пространственной когерентности. Эти нуары и искажения на ИК-изображениях и спектрах, как правило, считаются дефектами химической визуализации (см. DOI: 10.1002/jbio.201800015).

Отделение химической информации образца от физической, описывающей фазовые отношения рассеянных фотонов, представляет собой непростую задачу. HYPERION II подходит к этой проблеме прагматично, решает ее с помощью интеллектуального аппаратного дизайна и позволяет получать данные химической визуализации без артефактов.

Сравнение FT-IR и QCL спектроскопии

Заявление, что оба метода могут выполнять одну и ту же задачу одинаково хорошо, - популярное заблуждение. FT-IR и инфракрасная лазерная визуализация имеют явные преимущества, и только практическая комбинация обеих позволяет достичь наилучших результатов.

Мы знаем, что большинство ученых и исследователей не хотят отказываться от универсальности FT-IR. Им не нравится ограничиваться одной передовой техникой без точки отсчета. К счастью, HYPERION II можно считать как исключительным FT-IR микроскопом, так и амбициозным микроскопом QCL.

Мы рассмотрели эту двойственность, и там, где технология QCL записывает данные значительно быстрее при одном и том же сигнале к шуму, она по-прежнему ограничена небольшим диапазоном MIR. Опять же, мы остаемся верны концепции HYPERION II. Это Ваш выбор. У Вас есть полный контроль.

New Feature: High Performance Chemical Image Generation by New Adaptive K-means Clustering Function

This new function is the logical next development step for our well known Cluster analysis function.The Adaptive K-means Clustering Function is based on a new algorithm, which enables a non-supervised and autonomous determination of spectral variance within your imaging or mapping results.

•  Forecasting or time consuming searching of the included amount of chemical classes is no longer been necessary as the algorithm can predict all included chemical classes  by itself.
• This major function is important for all kind of chemical imaging and distribution analysis of unknown samples or small structures within larger datasets.
• Make analysis and evaluation is as easy as possible and safes your valuable time and nerves.

New Feature: “Cluster ID” Function for Identification of Classes in 3D Spectral Data

Our new Cluster ID function enables the identification of clusters within imaging and mapping data using the OPUS functions: spectrum search in libraries, quick compare, or identity test.

• Easy determination of the chemical identity of classified sample components for particles, layers in laminates, components of pharmaceutical tablets and other inhomogeneous materials.
• Reliable and comprehensive statistics reports about quantity, size and of course identity of all analyzed structures is provided and leads particle and technical cleanliness analysis to a new, autonomous level.
  

Updated Feature: "Find Particles" function now contains a novel particle detection method

The proven "Find Particle" software can now be applied to both: the visual and the IR image. With this updated feature, you are able to do particle detection based on chemical images that were measured by the LUMOS II.

• While particle recognition for low contrast structures and off-white/transparent particles/fibers on off-white filter membranes can be tedious, a postrun particle determination based on the chemical IR image allows you to determine quantity and size of particles from your imaging or mapping results.