VERTEX_80v-Kopie.jpg

Вакуумный спектрометр VERTEX 70v идеально подходит для исследовательских задач, где требуется высокая чувствительность, стабильность и временное разрешение. Широкий спектральный диапазон вплоть до области дальнего ИК / THz позволяет решать специфические задачи для исследований в промышленности. Универсальная система VERTEX 70v в сочетании с подходящими модулями  и использованием соответствующей техники измерений обеспечивает решение практически любой задачи в области ИК-спектроскопии.

Исследования и разработки

  • Технология непрерывного и пошагового сканирования для спектроскопии с высоким временным разрешением, а также для спектроскопии с амплитудной (AM) и фазовой модуляцией (PM) (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • FT-IR спектроскопии при сверхвысоком вакууме
  • FT-IR спектроэлектрохимии для исследования in-situ поверхности электродов и электролитов
  • Исследование белков в воде (CONFOCHECK)
  • Определение простванственной конфигурации молекул (VCD)

Фармацевтика

  • Характеристика стабильности и летучих соединений в составе лекарственных препаратов с помощью термического анализа (TGA-FT-IR)
  • Дифференциация полиморфов активных фармацевтических ингредиентов в дальнем инфракрасном диапазоне (Bruker FM)

 

 

Полимеры и Химические соединения

  • Идентификация неорганических наполнителей в полимерных композитах в дальнем инфракрасном диапазоне (Bruker FM)
  • Динамические и реооптические исследования полимеров
  • Определение летучих соединений и характеризация процессов разложения с помощью термического анализа (TGA-FTIR)
  • Мониторинг реакции и контроль реакции (волоконный зонд MIR)
  • Идентификация неорганических минералов и пигментов

Анализ поверхностей

  • Обнаружение и характеризация тонких слоев и монослоев
  • Анализ поверхности в сочетании с модуляцией поляризации (PM-IRRAS)

Материаловедение

  • Характеризация оптических материалов, а так же материалов с высокой отражающей способностью (окна, зеркала)
  • Исследование темных материалов и профилирование глубины методом фотоакустической спектроскопии (PAS)
  • Характеризация излучательной способности материалов

Полупроводники

  • Определение содержания кислорода и углерода в кремниевых пластинах для контроля качества