Сбалансированная конструкция

TENSOR II сконструирован для исследования больших образцов, несмотря на компактные размеры. Оптическая скамья защищена от внешнего воздействия корпусом из высококачественного прочного материала.

 

Внешние устройства и модули анализа образцов

Возможности TENSOR II можно расширить при использовании опционального внешнего порта излучения, на который можно установить одно или более внешнее устройство.

  • ИК-микроскопы серии HYPERION
  • Система визуализации HYPERION 3000
  • Микропланшетный ридер HTS-XT
  • Модуль визуализации с матричным детектором IMAC
  • Модуль ТГА
  • PMA 50 для VCD и PM-IRRAS
  • Внешнее кюветное отделение, вакуумируемое или продуваемое
  • Модуль для ИК-измерений при высоком вакууме
  • Интегрирующая сфера
  • Автоматическое устройство смены жидких образцов
TENSOR_II_ATR_Microscope.jpg

 

Улучшеная электроника

Технология детекции DigiTectTM от Bruker гарантирует низкое значение электронного шума. Система содержит современный двухканальный дельта-сигма 24-разрядный АЦП, встроенный в электронику предусилителя детектора.
Помимо этого, TENSOR II имеет уникальный режим для улучшения соотношения сигнал/шум для измерений при низком световом потоке со стандартным детектором DTGS.

 

Расширение диапазона

TENSOR II опционально можно оснастить широкополосным светоделителем, перекрывающим диапазон от ближнего до дальнего ИК. При этом источник и детектор пользователь может менять самостоятельно, в зависимости от выбранного диапазона, а параметры определятся автоматически.

 

Используемые технологии защищены одним или более из перечисленных патентов:
US 7034944; US 5923422; DE 19940981

 

 

Related Information