MATRIX_F-Kopie.jpg

On-line FT-NIR анализ

Отмеченный наградами спектрометр MATRIX-F предназначен для контроля технологических процессов непосредственно в реакторах и трубопроводах. On-line анализ позволяет значительно глубже понимать, а следовательно эффективней управлять процессом производства.

• Точные результаты измерений в считаные секунды
• Многокомпонентный анализ
• Неразрушающий анализ
• Встроенный 6 – канальный мультиплексор (опция)
• Прямой перенос методов
• Прочная конструкция
• Возможность подключения по локальной сети Ethernet и другие промышленные протоколы обмена

Получить более подробную информацию

FT-NIR анализ в режиме реального времени

Контроль технологических процессов в режиме реального времени обладает рядом преимуществ и является неотъемлемой частью любого производственного процесса. Однако установка промышленного анализатора в непосредственной близости к точке, в которой контролируется технологический процесс, связана со следующими сложностями: резкие перепады температуры, пыль и грязь в производственных помещениях, отсутствие возможности обеспечить легкий доступ к прибору, необходимость установки анализатора во взрывозащищенной зоне.


Использование оптоволоконных технологий позволяет проводить измерения в любой точке технологического процесса.  MATRIX-F устанавливается в оптимальное для эксплуатации анализатора место, например, в промышленный монтажный шкаф. При этом измерения могут производиться на удаленном расстоянии от прибора благодаря применению оптоволокна, соответствующего всем промышленным требованиям по защите. Bruker Optics предлагает готовые решения под различные промышленные аналитические задачи.

Максимум практичности

Matrix-F единственный FT-NIR спектрометр, с помощью которого возможно проводить как контактные так и бесконтактные измерения образцов, используя оптоволоконную технологию.

  • Оптоволоконные датчики: Классические датчики диффузного отражения, датчики трансфлекции и датчики пропускания. В зависимости от параметров технологического процесса подбирается различная длина оптического пути датчика, проточная ячейка для установки в процесс или вариант сборки опытной установки.  Возможные варианты материала датчиков: Hastelloy или нержавеющая сталь.

  • Датчики для бесконтактных измерений:  Оптоволоконные NIR датчики излучения и регистрации содержат вольфрамовые источники излучения, которые освещают образец. Рассеянный свет собирается и через оптоволоконный кабель поступает в спектрометр. Таким образом, измерение проводится удаленно, на расстоянии, что открывает широкие возможности по применению данного метода в различных областях промышленности. К эмиссионному спектрометру MATRIX-F или к спектрометру MATRIX-F duplex можно подключать до 6 датчиков одновременно.
  •