Dimension_Icon_AFM-Raman_527x245px.png

Наивысшая эффективность АСМ с колокализацией микроскопии комбинационного рассеяния

Комбинация лучшего в отрасли АСМ и исследовательского конфокального микроскопа комбинационного рассеяния на одной платформе.

С введением интегрированных функций спектроскопии комбинационного рассеяния, платформа Dimension Icon® от компании Bruker устанавливает новый стандарт в высокоэффективной характеризации поверхности, позволяя проводить колокализованные измерения с непревзойденной эффективностью и легкостью. Система АСМ-комбинационного рассеяния Icon сводит вместе дополнительные методы атомно-силовой микроскопии и микроскопии комбинационного рассеяния для получения критически важной информации как о рельефе, так и химическом составе образца. 

Дополнив эти методы более совершенными режимами АСМ, такими как эксклюзивный метод электрической характеризации PeakForce TUNA™ и количественное наномеханическое картирование PeakForce QNM®, исследователи получают возможность лучше понять механизмы, которые приводят к возникновению специфических свойств материалов.

Request More Information about the Dimension Icon-Raman

Related Information