Свяжитесь с нами

Customer Service, Handheld XRF Spectrometry

Энергодисперсионная спектрометрия, дифракция обратного рассеяния электронов, сканирующая электронная микроскопия и микрокомпьютерная томография

QUANTAX EBSD

Icon_EBSD.jpg

Система дифракции обратного рассеяния электронов QUANTAX

QUANTAX Compact

QUANTAX Compact teaser

The easy-to-use EDS system

AMICS Software

Amics teaser

Mineral Liberation Analysis

e-FlashFS

Eflash FS teaser

The fast and sensitive EBSD detector

e-FlashHD

Eflash HD teaser

The high definition EBSD detector

XFlash® 6 | 10

Icon_6_10.jpg

Кремниевый дрейфовый детектор высокого разрешения

ЭM анализаторы

Icon_6_10.jpg

Передовое определение характеристик материалов в электронных микроскопах

XFlash® 6 | 30

Icon_6_30.jpg

Высокоэффективный универсальный кремниевый дрейфовый детектор

XFlash® 6 | 60

Icon_6_60.jpg

Кремниевый дрейфовый детектор с большой активной площадью для наноанализа

XFlash® 6 | 100

Icon_6_100.jpg

Кремниевый дрейфовый детектор с очень большой активной площадью для условий с низким током пучка

ESPRIT

Icon_ESPRIT.jpg

Идеальный аналитический программный пакет для ЭДС

ESPRIT Quant

Icon_quant.jpg

Автоматический безэталонный количественный анализ

ESPRIT Equant

Icon_quant.jpg

Дополнительные функции анализа

ESPRIT Uquant

Icon_quant.jpg

Создание собственных методов количественного анализа

ESPRIT HSQuant

Icon_quant.jpg

Комбинированный количественный анализ

ESPRIT CLQuant

Icon_quant.jpg

Количественный анализ по методу Клиффа-Лоримера

ESPRIT SpecMatch

Icon_SpecMatch.jpg

Поиск и сравнение с подобными спектрами

ESPRIT Map

icon_map.jpg

Быстрое цифровое картирование

ESPRIT Qmap

icon_qmap.jpg

Количественное картирование

ESPRIT HyperMap

icon_hypermap_t.jpg

Картирование с записью полного спектра от каждой точки изображения

ESPRIT AutoPhase

icon_autophase.jpg

Автоматический фазовый анализ

XFlash® 6T | 30

Icon XFlash® 6T | 30

Для традиционных трансмиссионных микроскопов и трансмиссионных микроскопов с коррекцией аберрации

XFlash® 6T | 60

Icon XFlash® 6T | 60

Большой телесный угол для анализа на атомном уровне

Система обнаружения ARGUS™ FSE/BSE

ARGUS TEaser Icon

Цветные изображения микроструктуры

Кикучи дифракция «на просвет»

tkd_teaser.png

Метод дифракции Кикучи «на просвет»

Программа ESPRIT для дифракции обратного рассеяния электронов

ESPRIT for EBSD Teaser Icon

Гибкая и простая в использовании

ЭДС QUANTAX для СЭМ

EDS for SEM Teaser Icon

Аналитическая мощность для электронного микроскопа

Кремниевый дрейфовый детектор XFlash®

Icon Teaser XFlash Technology

Вебинары по энергодисперсионной спектрометрии, дифракции обратного рассеяния электронов, и микрокомпьютерной томографии для сканирующей электронной микроскопии

Icon-Teaser-EducationTraining.jpg

В режиме реального времени и по запросу

Школы для пользователей

BNA Trainining Icon

Курсы обучения по ЭДС

ESPRIT DynamicS

DynamicS_teaser_icon.jpg

EBSD Pattern Simulation

QUANTAX FlatQUAD

FQ_teaser.jpg

Maximum Efficiency in X-ray Detection

ESPRIT 2 Quant

Icon_quant.jpg

Автоматический безэталонный количественный анализ

ESPRIT 2 Equant

ESPRIT 2 Uquant

ESPRIT 2 HSQuant

ESPRIT 2 CLQuant

ESPRIT 2 ZetaQuant

ESPRIT 2 SpecMatch

ESPRIT 2 Map

ESPRIT 2 QMap

ESPRIT 2 HyperMap

ESPRIT 2 AutoPhase

ESPRIT 2

OPTIMUS™ Detector Head

Get the upgrade!

ESPRIT QUBE

XFlash® 6 | 60 Special Promotion