RU
  • English
  • Deutsch
  • Français
  • Español
  • Português
  • Polski
  • Pусский
  • 简体中文
  • 日本語
  • 한국어
Bruker
Вход
  • Продукция
    Масс- спектрометрические системы
    МАЛДИ системы
    ESI-QqTOF
    ESI-ITMS
    ESI-Triple Quad-MS
    UHPLC and nanoLC for LC/MS
    Источники ионизации
    GC-Triple Quad MS
    ИЦР-ФТМС
    HDX Solution
    Toxtyper
    TargetScreener HR
    Программное обеспечение
    ИК, FT-NIR и КР спектроскопия
    FT-NIR спектрометры
    Лабораторные ИК-Фурье спектрометры
    Исследовательские ИК-Фурье спектрометры
    ИК-Фурье микроскопы, КР микроскопы
    Промышленные спектрометры
    Анализ газов
    Спектрометры для дистанционного анализа
    Terahertz
    КР-спектрометры и микроскопы
    OPUS - Spectroscopy Software
    Сетевое решение ONET
    Рентгеновская дифракция и элементный анализ
    Рентгенофлуоресцентная спектрометрия
    Рентгеновская дифракция
    Монокристальная дифрактометрия
    Small-Angle X-ray Scattering
    Портативные РФ-спектрометры
    LIBS
    Micro-XRF and TXRF
    Рентгеновская метрология
    EDS, WDS, EBSD, SEM Micro-XRF
    Оптико-эмиссионная спектрометрия
    CS/ONH-анализ
    Магнитный резонанс
    ЯМР
    MR in Pharma
    Анализатор продуктов
    NMR Preclinical Screening
    ЭПР
    МРТ
    ЯМР Релаксометры
    NMR Software
    EPR Software
    Анализ поверхности
    Атомно-силовая микроскопия - АСМ
    3D Optical Microscopes
    Зондовая профилометрия
    Nanomechanical Test Instruments
    Tribometers and Mechanical Testers
    Доклиническая томография
    МР томография
    Optical/X-ray imaging
    ПЭТ/ОФЭКТ/ КТ система для исследования животных
    PET/MR
    Magnetic Particle Imaging (MPI)
    microCT
    Fluorescence Microscopes
    Ultima Multiphoton Microscopy
    Opterra Confocal Microscopy
    Vutara Super Resolution Microscopy
    Luxendo Light-Sheet Microscopy
    Microtomography
    Рентгеновская микротомография
    Micro-CT for life science
    Micro-CT software
    Обнаружение CBRNE
    Спектрометрия подвижности ионов (СИП)
    GC-MS
    FT-IR
    Bio Detection
    Radiological Detection
    Semiconductor Metrology
    Automated AFM
    X-Ray Metrology for Silicon
    X-Ray Metrology for Compound Semiconductor
    X-Ray Defect Inspection
    Superconductors and Metal Composite Materials
    Cuponal
    Superconductors
    Molecular Diagnostics
    Real-Time PCR
  • Отрасли
    Биологические науки
    Metallomics
    Протеомика
    Метаболомика
    Структурная биология
    MALDI Imaging
    Glyco Analysis
    Фармацевтика
    Разработка новых лекарственных препаратов
    Drug Development
    Drug Manufacturing
    Химическая отрасль
    Энергия, топливо и нефтепродукты
    Химическое образование
    Аналитическая химия
    Polymers & Plastics
    Petrochemical Industry
    Металлы
    Металлообработка
    Сварочное производство
    Metals Automotive
    Aluminum Production
    Материаловедение
    Исследования материалов
    Горное дело и минералы
    Автомобильная и аэрокосмическая отрасли
    Полупроводники и микроэлектроника
    Клинические исследования
    Biobanking
    Криминалистика
    Медицинские приборы
    Pathology
    Пищевая промышленность
    Качество пищевых продуктов
    Безопасность пищевых продуктов
    Корма для животных
    Сельское хозяйство
    Elemental analysis of food
    Окружающая среда
    Сохранение предметов искусства
    Скрининг пестицидов
    Утилизация отходов
    Экологический мониторинг
    Silica dust
    Контроль качества и технологического процесса
    Cement
    Анализ бумаги
    Textile
    Контроль технологических процессов
    Glass
    Национальная безопасность
    Войска
    Службы экстренной помощи
    Vehicle Solutions
    Explosives Trace Detection
    Критически важная инфраструктура
    Maritime NC-Detection
    Промышленность
    Microbiology
    Clinical
    Veterinary
    Water Testing
    Strain Typing with IR Biotyper
    Food & Beverage
    Pharmaceutical
    Microbiological Research
    Доклиническая томография
    Oncology
    Cardiology
    Inflammation
    Infectious diseases
  • Сервис
    Информация и взаимодействие
    Служба технической поддержки и технической поддержки
    Руководства по эксплуатации
    Terms and Conditions
    Техническая поддержка и обновления
    Центр загрузки программного обеспечения
    Сервисные соглашения
    Запчасти и расходные материалы
    LabScape eStore for NMR
    CARE Shop
    AFM Probes Store
    Образование и обучение
    Учебные курсы
    Вебинары
    Поддержка продукции
    LabScape - Magnetic Resonance & Preclinical Imaging
    IR,NIR & Raman
    Mass Spectrometry
    Рентгеновская дифракция и элементный анализ
    HH-XRF & HH-LIBS
    AFM, Optical, Stylus, Mechanical Testers
  • Новости
  • События
  • О компании
    Инвесторам
    Карьера
    Представительства
    Сообщество
    Регистрация
  • Вход
  • Вход
RU
  • English
  • Deutsch
  • Français
  • Español
  • Português
  • Polski
  • Pусский
  • 简体中文
  • 日本語
  • 한국어
D2-PHASER 2nd Generation - X-ray desktop
D2 PHASER
Контакты
  • Home
  • Продукция
  • Рентгеновская дифракция и элементный анализ
  • Рентгеновская дифракция
  • D2 PHASER
  • Learn more
  • Home
  • Продукция
  • Рентгеновская дифракция и элементный анализ
  • Рентгеновская дифракция
  • Learn more
  • Overview
  • Applications
  • Learn more
  • Videos
  • Контакты

D2 PHASER Brochure (XRD)

D2 PHASER Brochure, XRD

D2 PHASER 2nd Generation:
Diffraction Solutions - Brochure

English version, Portuguese version, Japanese version, Russian version, Spanish version

XRD Lab Reports

X ray Diffraction in Petrochemical Industry Lab Report

X-ray Diffraction in the Petrochemical Industry: Wellsite Mineralogical Analysis of Shale Formations with the D2 PHASER - Lab Report

Identification of Swelling Clays Lab Report, XRD

X-ray Diffraction in the Petrochemical Industry
Identification of Swelling Clays with the D2 PHASER - Lab Report

D2 PHASER Product Sheets (XRD)

LYNXEYE Detector Spec Sheet, XRD

LYNXEYE Super Speed Detector:
for X-ray Powder Diffraction - Spec Sheet

Flyers (XRD)

LYNXEYE XE-T Detector Flyer

LYNXEYE XE-T - High-Resolution Position Sensitive Detector with Superb Energy Resolution - Flyer

D2-PHASER-2ndGen-Flyer-First-Page.jpg

D2 PHASER The Second Generation Benchtop X-ray Diffractometer - Flyer

Powder Metallurgy Flyer

Elemental Analysis & Metrology for Powder Metallurgy: Analytical Solutions for Modern Production Processes
(Flyer)

D2 PHASER XE-T Edition

D2 PHASER XE-T Edition

Best Benchtop XRD

D2 PHASER: The World´s Best Benchtop XRD

Data quality

D2 PHASER: Superior Data Quality

XRD software

XRD Software

XRR, TEXTURE, DQUANT, EVA, LEPTOS, MEASUREMENT CENTER, PolySNAP, TOPAS

Icon-Teaser-EducationTraining.jpg

XRD Webinars

Live and On-Demand

Specimen Holders

XRD Specimen Holders

  • Overview
  • Applications
  • Learn more
  • Videos
  • Контакты
Позвоните для получения информацииДополнительная информация
  •            
  • Главная
  • Контакты
  • Выходные данные
  • Условия использования
  • Privacy Policy
  • Newsletter

© Copyright Bruker 2018