Service-training-banner.jpg

5 on 1 – Streifzug durch die analytischen Methoden für REM & TEM

Kostenloses Webinar – Jetzt anmelden!

EDS Element Map aufgenommen mit 5 kV Anregungsspannung
EDS Element Mapping aufgenommen mit 5 kV Anregungsspannung. Dank on-line Peak-Entfaltung ist die Trennung von Si K-Linie und W M-Linie auch ohne Quantifizierung möglich.

Neben der bekannten energiedispersiven Röntgen-Spektroskopie (EDS) unterstützt Bruker weitere analytische Methoden am Elektronenmikroskop:

  • zur chemischen Analyse (WDS und Mikro-XRF am REM)
  • zur strukturellen Untersuchung (EBSD)
  • zur Charakterisierung der internen Mikrostruktur (Mikro-CT am REM)


In unserem ca. einstündigen Webinar in deutscher Sprache werden wir diese fünf Methoden und ihre Kombination vorstellen. Nach einer kurzen Einführung in die Grundlagen präsentieren wir Messergebnisse und zeigen, welche Methode für welche Fragestellung am besten geeignet ist.


Abgerundet wird das Webinar durch einen ca. 15-minütigen Frage- und Antwort-Teil, in dem unser Experte gern Ihre Fragen beantwortet.

 

Referent:

  • Max Patzschke, Application Scientist EDS, Bruker Nano, Berlin

Wer sollte teilnehmen?

  • REM und TEM Nutzer, die neben der reinen Bildinformation an weiteren Materialeigenschaften ihrer Probe interessiert sind
  • EDS Anwender, die sich über neueste Trends und Entwicklungen informieren möchten

Aufzeichnung ansehen

Präsentation herunterladen (PDF)