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TEM-EDS: Energiedispersive Röntgenspektroskopie an elektronentransparenten Proben – Möglichkeiten und Herausforderungen

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Fixierte Hefezelle mit Silbermarkern: Element-Map mit ausgewählten Elementen, gemessen mit einem Raumwinkel von 0.1sr an einem konventionellen STEM
Element-Map eines Core-Shell-Nanopartikels
Core-Shell-Nanopartikel: Element-Map mit ausgewählten Elementen, gemessen mit einem Raumwinkel von 0.1sr an einem aberrationskorrigierten STEM

Die quantitative chemische Charakterisierung von Materialkombinationen aus leichten und schwereren Elementen mit energiedispersiver Röntgenanalyse (EDS) und hoher räumlicher Auflösung im Elektronenmikroskop ist eine Herausforderung. Während quantitative Bulkanalyse mit EDS im SEM extensiv entwickelt worden ist, ist die quantitative EDS von Nanostrukturen und in Transmission noch unausgereift. Faktoren, welche die korrekte Analyse erschweren, sind z.B. Absorptionseffekte, Strahlungsschäden und Präparationsartefakte.

 

Dieses Webinar diskutiert den Einsatz der Bruker XFlash®-Technologie für die quantitative EDS elektronentransparenter Proben auf der Nanoskala im STEM und SEM. Anhand verschiedener Anwendungsbeispiele aus Material- und Biowissenschaft werden u.a. die folgenden Themen besprochen:

  • Einzel- und Vielfachkanaldetektorsysteme
  • Einfluss von Raum- und Abnahmewinkel
  • EDS an konventionellen und aberrationskorrigierten Mikroskopen
  • Analysestrategien und Vermeiden von Strahlschädigung der Proben
  • EDS mit atomarer Auflösung
  • Vor- und Nachteile der Cliff-Lorimer-Quantifizierung
  • Vor- und Nachteile der Zeta-Faktor-Quantifizierung
  • komplementäre STEM/SEM Analytikmethoden

Ein 15-minütiger Frage- und Antwort-Teil rundet das Webinar ab.

Referentin:

  • Dr. Meiken Falke, Global Product Manager EDS/TEM, Bruker Nano, Berlin

Wer sollte teilnehmen?

  • TEM Nutzer, die sich über EDS am TEM informieren möchten
  • EDS Anwender, die sich für die neuesten Trends und Entwicklungen von EDS am TEM interessieren

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