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測量薄膜厚度

布魯克公司提供準確測量透明薄膜厚度的方法

在產品表面覆蓋一層薄膜或者透明膜,起保護作用或發揮很多其他特殊功能,例如,用於電子裝置表面、光伏器件或光學濾波片。準確了解這些薄膜的厚度並將厚度控製到納米級,對產品質量和性能至關重要。

布魯克公司提供快速高效的接觸式探針測量系統。用於薄膜厚度測試,具備最高的重複性和準確度,可以測量納米級薄膜,重複性低於5 埃。對於較厚的透明薄膜,布魯克非接觸式三維光學形貌儀可以測量厚度介於1 到400 微米之間的薄膜。