Dimension HPI AFM
Dimension HPI Overview | Industrial Atomic Force Microscope
Dimension XR from the leading SPM manufacturer
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NanoMechanics Lab

原子力顯微鏡

PeakForce Tapping技術支持的高解析度原子力顯微鏡

Multimode 8-HR AFM
Multimode 8-HR AFM

高解析度原子力顯微鏡

作為原子力顯微鏡(AFM)的全球儀器領導者,布魯克已經持續塑造和擴展原子力顯微鏡的能力達幾十年。因此布魯克的原子力顯微鏡是世界上在各個研究領域被引用最多的。在過去的壹年中,我們繼續發布了業界領先的用於生命科學研究的生物原子力顯微鏡,用於材料研究的高速原子力顯微鏡,以及高級軟體應用功能,和革命性的成像技術和模式等。

 

在輕敲模式(Tapping)之上,布魯克原子力顯微鏡獨有的的PeakForce Tapping®技術,可幫助研究人員實現機械性能、電學和化學性能研究。這些新技術和新模式的易用性使得初學者也能在各種樣品上實現高解析應用,包括在某些關鍵領域真正的原子像。此外,作為唯壹的自帶原子力顯微鏡探針加工工廠的原子力顯微鏡製造商,布魯克所具有的獨特優勢能提供給客戶在奈米尺度研究中所需的設備、指導建議和技術支持。

Multimode 8-HR AFM
High Resolution AFM

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