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與原位微區拉曼結合的高性能原子力顯微鏡

集成最先進的原子力顯微鏡和最高級的科研型拉曼光譜

Dimension Icon®AFM-Raman可以提供PeakForce QNM納米尺度定量力學成像模式和PeakForce TUNA™電學測量模式,擺脫傳統的力驅動顯微鏡的局限,具有足夠的資料獲取速度和解析度,説明使用者輕鬆獲取更多材料特性的實驗資料。

Dimension Icon®AFM-Raman將最先進的原子力顯微鏡和最高級的科研型拉曼光譜集成化,在同一套系統上,既可以利用拉曼成像技術獲得樣品的化學或者晶體學構象和光譜資訊;同時可與AFM技術完美結合,獲得其納米尺度上的機械性質,電學性質和熱力學性質等測量結果。

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