DimensionIconXR webslider 2018.134

Large-Sample AFMs

只有布魯克的大樣品臺原子力顯微鏡提供能夠分辨點缺陷的靈活樣品臺。傳統的高解析原子力顯微鏡只能在小樣品臺上實現,而布魯克的大樣品臺原子力顯微鏡在設計上全盤考慮保證了最低的熱飄移和雜訊。現在研究人員能夠在幾分鐘內實現樣品的高解析真實成像,不需要再耗費幾個小時。使用專有的PeakForce Tapping技術,布魯克的大樣品臺原子力顯微鏡不僅可測量形貌還能夠實時提供奈米機械性能和奈米電學性能的數據。

FastScan 230x187

Dimension FastScan

 

奈米尺度研究的最高效原子力顯微鏡

 

 

Icon 230x187

Dimension Icon

 

這合更寬應用領域的大樣品AFM成像

Edge Large Sample AFM 230x187

Dimension Edge


最物超所值的高性能原子力顯微鏡

FastScan 230x187

Dimension FastScan

Flagship AFM for Nanoscale Research

 

 

Edge Large Sample AFM 230x187

Dimension Edge

The Best Value High-Performance AFM