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定量奈米和微米尺度力學和摩擦學表徵

 

布魯克開發了一套全面的奈米力學及摩擦學測試系統,可以和强大的顯微鏡科技聯用。先進的顯微鏡科技和原位定量奈米力學表徵結合,有助於加速理解材料奈米尺度行為。

surface analysis
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PI 85L SEM PicoIndenter

PI 85LPI 85L掃描電鏡專用原位奈米力學測試系統時深度感應奈米力學測試設備,它能與掃描電鏡(SEM)聯用。

 

PI 88 SEM Picoindenter icon

PI 88 SEM PicoIndenter

PI 88SEM PicoIndenter

PI 88掃描電鏡專用原位奈米力學測試系統,Hysitron的全面奈米力學測試設備的所有科技功能都能用於SEM和FIB/SEM。

 

PI 95 TEM Picoindenter icon

PI 95 TEM PicoIndenter

PI 95TEM PicoIndenter

PI 95透射電鏡專用原位奈米力學測試系統是第一臺成熟的深度感應壓痕設備,能在透射電鏡(TEM)裏直接觀察奈米力學測試。

 

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IntraSpect 360

IntraSpect 360專為X光顯微鏡(XRM)和加速器設計的原位定量力學性能表徵設備。

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BioSoft In-Situ Indenter

BioSoft In-Situ Indenter是第一台用於生物材料和水凝膠的多尺度定量力學测試設備。

TS 75 Product image v1

TS 75 TriboScope

TS 75 TriboScope在已有原子力顯微镜(AFM)上增加定量傳感器執行奈米壓痕和奈米摩擦學表徵功能。

Hysitron BioSoft In-Situ Indenter | Bruker

BioSoft In-Situ Indenter

The first of its kind instrument for multiscale quantitative mechanical testing of biological materials and hydrogels.