【わかる！AFM】 半導体解析の基礎 とコツ～ SCM, SSRM, sMIMを用いた表面・界面の電気特性評価
わかる！AFM シリーズ第2弾として、SCM, SSRM, sMIM を用いた半導体解析に関するウェビナーを企画しました。今回はブルカーアプリケーションエンジニアよりAFMを用いた電気測定の基礎や各種解析結果、更に最新のデータキューブ測定例についてご紹介し、最後に試料作製方法を簡単に紹介します。
内容
わかる！AFM シリーズ第2弾として、SCM, SSRM, sMIM を用いた半導体解析に関するウェビナーを企画しました。今回はブルカーアプリケーションエンジニアよりAFMを用いた電気測定の基礎や各種解析結果、更に最新のデータキューブ測定例についてご紹介し、最後に試料作製方法を簡単に紹介します。
＜形式＞
ウェビナー（オンラインによるWEBセミナー）
※ウェビナー配信サービスには「GoToWebinar」を利用致します。
GoToWebinar のインストールが可能なPC及びモバイル端末等をご用意をお願い致します。ご勤務先のセキュリティーポリシーによってはアクセスが許可されていない場合もございます。事前にIT部門の方へご確認願います。ご登録後にウェビナー参加詳細が書かれたメールが届きます。当日は開始10分前までに、メールに記載されたリンクをクリックし、参加します。（当日は30分前よりログイン頂けます。）
GoToWebinar システム要件はこちら▶ https://bit.ly/3sne6xl
＜参加費＞
無料
2021年5月14日（金）
16：00～16：50（日本時間）
※15：30ログイン受付開始（※初めてGoToWebinarでご参加の方は接続テストのため早めにログインを頂けますようお願い致します。）GoToWebinar システム要件はこちら▶ https://bit.ly/3sne6xl
こんな方におすすめ
- これからAFMを用いた半導体解析を始めたい方
- ドーパントプロファイル可視化に興味のある方
- マクロな電気測定に課題を感じている方
プレゼンター
ブルカージャパン株式会社 ナノ表面計測事業部 アプリケーションエンジニア 寺山 剛司