eFlash HD

高清EBSD探测器

新的 eFlash HD 探测器的原生 CCD 分辨率接近 200 万像素(1600 x 1200 像素),以及最先进的摄像机光学元件,可最大限度地减少失真,捕捉高清菊池花样,显示最精细的细节。eFlash HD 是残余应变分析 (HR-EBSD) 的完美选择。包含 eFlash HD 高质量模式的数据集也是与 CrossCourt4 等第三方软件进行cross correlation分析的的理想之选。

典型应用

  • HR-EBSD(残余应变分析)
  • 超精确相位识别
  • 晶体结构的伪对称分析

与前代 (eFlash HR) 相比,新型 eFlash HD 探测器具有增强的冷却系统,可将 CCD 的暗电流降低 4 倍。因此,生成的菊池花样质量更好,具有更高的信/噪比。

新型 eFlash HD探测器使用高效率和高质量的荧光屏,以获得含有极小细节的 菊池花样。高像素分辨率CCD芯片和小颗粒尺寸的荧光材料的组合保证了最终像素大小在20 μm的图案,让我们看到极小的菊池条带偏移的细节。

eFlash HD 的高精度制导系统可实现超过 10 μm 的屏幕定位精度。因此,新的 eFlash HD 是使用基于屏幕移动运行模式中心校准的最佳解决方案。

eFlash HD 提供 ARGUS ™前散射/背散射电子成像系统。这进一步提高了探测器的功能性,并为有意义和高效的微观结构特性提供了有价值的附加信息。

新的 eFlash HD 还可改装搭载独特的 OPTIMUS ™ TKD 探测器,用于分析电子透明样品,实现最佳的样品探测器几何形状(同轴构型)。

eFlash HD,用于高细节和高分辨率模式。
对于具有最佳样品探测器几何构型的 TKD:带水平 OPTIMUS 探测器头的 eFlash HD。