SÉRIE DE PICOINDENTERS TEM

Hysitron PI 95

Essais nanomécaniques quantitatifs dans votre microscope électronique à transmission
INSTRUMENT DE TEST NANOMÉCANIQUE IN-SITU

PicoIndenter TEM Hysitron PI 95

Le PicoIndenter TEM Hysitron PI 95 de Bruker est le premier indenteur à détection de profondeur capable de réaliser des essais nanomécaniques par observation directe à l'intérieur d'un microscope électronique à transmission (TEM). Avec cet instrument à entrée latérale, il est non seulement possible d'imager la réponse mécanique des matériaux à l'échelle nanométrique, mais aussi d'acquérir simultanément des données de charge-déplacement. En outre, une interface vidéo intégrée permet la synchronisation temporelle entre la courbe charge-déplacement et la vidéo TEM correspondante.

Solution Complète
indenteur à détection de profondeur
Permet de réaliser des essais nanomécaniques par observation directe dans un microscope électronique à transmission et prend en charge la compression, la tension, Push-to-Pull (PTP), Electrical Push-to-Pull (EPTP), nanoDynamic, la caractérisation à haute température et la caractérisation électrique.
Performech
module de contrôle avancé
Fournit un taux de retour de 78 kHz et une acquisition de données jusqu'à 38 kHz pour capturer les événements transitoires, tels que les salves de dislocation.
Précision
positionnement de la pointe et essais mécaniques
Comprend un positionneur à trois axes, un actionneur piézoélectrique 3D et un transducteur avancé pour l'actionnement électrostatique et la détection capacitive du déplacement.

Une Solution Personnalisée pour votre TEM

L'Hysitron PI 95 a été soigneusement conçu pour être compatible avec les microscopes JEOL, FEI, Hitachi et Zeiss. Avec cet instrument, il est non seulement possible d'imager la réponse mécanique des matériaux à l'échelle nanométrique, mais aussi d'acquérir simultanément des données mécaniques quantitatives. L'interface vidéo intégrée permet la synchronisation entre la courbe charge-déplacement et la vidéo TEM correspondante.

Optimisé pour l'Investigation à l'échelle Nanométrique

 Images TEM en champ noir d'un nanopillier de Ni avant et après compression. La forte densité de dislocation initialement observée dans le pilier a disparu lors de la compression. Nature Materials 7, 115-119 (2007).

L'Hysitron PI 95 est particulièrement adapté à l'étude des phénomènes à l'échelle nanométrique. La réalisation de ces types d'études dans le TEM peut fournir une différenciation sans équivoque entre les nombreuses causes possibles des transitoires de force ou de déplacement qui peuvent inclure des éclatements de dislocation, des transformations de phase, des écaillages, des bandes de cisaillement ou l'apparition de fractures. 

Performance Inégalée

Un exemple de test de rayure à 1 μN : (1) Charges et déplacements normaux et latéraux en fonction du temps et (2-5) images correspondantes de la vidéo TEM in situ montrant le flambage du film DLC en amont de la pointe et l'aplatissement des aspérités dans les sommets des grains.

L'Hysitron PI 95 utilise trois niveaux de contrôle pour le positionnement des pointes et les tests mécaniques. En plus d'un positionneur grossier à trois axes et d'un actionneur piézoélectrique 3D pour le positionnement fin, l'instrument est équipé d'un transducteur destiné à l'actionnement électrostatique et à la détection capacitive du déplacement et permet ainsi d'acquérir des données mécaniques quantitatives à l'échelle nanométrique.

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