超高分解能SEM×革新的EDS/EBSDによる最先端材料解析ソリューション
【WEB開催】超高分解能SEM×革新的EDS/EBSDによる最先端材料解析ソリューション
ーHitachi High-Tech × Bruker ジョイントWebinarー
電子顕微鏡による材料解析は、より微細・より高感度・より低ダメージへと進化を続けています。本ウェビナーでは、Hitachi High-Techの“超高分解能FE-SEM（SU8600/SU8700）と、Brukerの最新の検出器（FlatQUAD/eWARP）”を組み合わせることで実現する、最先端の材料解析ソリューションをご紹介します。ハードウェアの特長から実アプリケーションまでを横断的に解説いたします。
- 日時：2026年8月20日（木）13:30～15:10
- 会場：Webセミナー（ライブ配信）
- 参加費：無料
- 定員：300名（先着順）
【こんな方におすすめ】
先端材料の微細構造解析に携わる研究者・技術者の方
EDS/EBSDの高度化（高速化・高感度化・低ダメージ化）を検討されている方
既存SEM/EDS/EBSDのリプレースや増設を検討されている方
【本ウェビナーで得られること】
コールドFE-SEM SU8600とショットキーFE-SEM SU8700の装置特長と適用領域の違い
試料直上型EDS FlatQUADによる超高速・高感度・低ダメージ分析の実例
電子直接検出型EBSD eWARPによる微結晶・電子線敏感試料への新しい測定アプローチ
ぜひご登録のうえ、ご参加ください。
| 時刻（時間） | 講演内容 |
| 13:30～13:35（5分） | 開会のご挨拶・操作説明 |
| 13:35～13:55（20分） | コールドFE-SEM SU8600の装置特長とFlatQUAD分析の利点の紹介 株式会社日立ハイテク SU8600はCFE電子銃とセミインレンズを有し、高分解能観察と多様な検出信号を用いた観察が可能です。今回は、SU8600の装置特長を概説するとともに、Bruker FlatQUADとの組み合わせによる高効率EDS分析について、その有効性と適用範囲について詳しく実例を交えて紹介します。 |
| 13:55～14:15（20分） | 超高速×高感度×低ダメージこれまでのEDSの常識を変えるFlatQUAD検出器 ブルカージャパン株式会社 試料直上型のEDS FlatQUADは、B～の測定が可能で、超高速、高感度、低ダメージの分析を実現します。4つのEDS検出器を試料直上に配置することにより、高い立体角でX線を検出します。このジオメトリーと検出器設計により、従来のEDSでは難しい試料やアプリケーションが可能となります。 |
| 14:15～14:25（10分） | 休憩 |
| 14:25～14:45（20分） | ショットキーFE-SEM SU8700の装置特長と金属組織観察能力の紹介 株式会社日立ハイテク ショットキーFE電子銃と磁界静電界複合レンズを備えたSU8700は、極低加速電圧領域での観察や大照射電流を要する高速分析まで幅広い解析手法に対応可能です。今回は金属材料の観察能力について、精細画像取得の活用事例などをご紹介します。 |
| 14:45～15:05（20分） | 微結晶、電子線敏感試料へのEBSD測定を可能とする電子直接検出型eWARP ブルカージャパン株式会社 独自設計の電子直接検出型EBSD検出器は、圧倒的な14,400fpsという超高速測定の特長だけでなく、超高感度での測定が可能です。超高速、超高感度という特長を掛け合わせることにより、高精細で微結晶を捉えることができ、電子線敏感試料においても低加速電圧、低照射電流という測定アプローチが可能となります。 |
| 15:05～15:10（5分） | 閉会のご挨拶 |