Beschichtungs- und Schichtanalyse

Metallbeschichtungen sind für viele Industriezweige von wesentlicher Bedeutung, da sie einer Vielzahl von Produkten verbesserte Oberflächeneigenschaften bieten. Die Metallbeschichtungen können  durch eine langlebige, korrosionsbeständige Schicht das Grundmaterial schützen und dazu beitragen, den Verschleiß zu minimieren. Metallische Beschichtungen können unter anderem auch die elektrische Leitfähigkeit, Beständigkeit gegenüber Drehmomenten und die Lötbarkeit verbessern. Um die korrekten Beschichtungseigenschaften und die Haltbarkeit der Produkte zu gewährleisten, ist die Qualitätskontrolle der Dicke und der Zusammensetzung von Beschichtungen entscheidend. 

Gerade für strenge Qualitätskontrollen von Metallbeschichtungen ist die Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) die beste Gesamtlösung. Das Bruker M1 MISTRAL micro-XRF Spektrometer ermöglicht die simultane Messung der Dicke und Zusammensetzung von Beschichtungen. Neben der Schichtdickenanalytik kann das M1 MISTRAL auch für die Bestimmung der chemischen Zusammensetzung von Metalllegierungen, Beschichtungs-Badflüssigkeiten, Kunststoffen und vielen anderen Materialien eingesetzt werden.

Das M1 MISTRAL ist mit einem Hochleistungs-Silizium-Driftdetektor (SDD), einer W- oder Rh-Mikrofokus-Röntgenröhre und einem vom Benutzer wählbaren Kollimator ausgestattet. Der Kollimator ermöglicht die Anpassung der Messpunktgröße im Bereich von 100 µm bis 1,5 mm. In Kombination mit dem Videomikroskop und dem motorisierten und programmierbaren XYZ-Probentisch kann der Anwender sicherstellen, dass die Messung genau an der gewünschten Stelle stattfindet.

M1 MISTRAL bietet folgende Vorteile für die Beschichtungsanalyse:

• Schnelle und präzise Ergebnisse für Schichtdicke und Zusammensetzung
• Völlig zerstörungsfreie Analyse
• Messung von Mehrlagenbeschichtungen mit bis zu 12 Schichten
• Schneller programmierbarer XYZ-Probentisch für die automatisierte Multi-Point-Analyse
• Die einfach zu bedienende XDATA-Software ermöglicht die Erstellung von kundenspezifischen Beschichtungskalibrierungen.
• Umfassende Reporting-Funktionen zum schnellen Erstellen und Speichern von Analyseberichten
• Beschichtungsanalyse nach ASTM B568 und DIN/ISO 3497

Die M1 MISTRAL Schichtdickenanwendungen reichen von Messungen an Einzellagen wie Au auf Cu bis hin zu komplexen Legierungsbeschichtungen mit mehreren Lagen.

• Allgemeine Metallveredelungsbeschichtungen mit einer Schicht, (Zn, Ni, Cr, Cu, etc.) auf einem Substrat
• Beschichtungen aus Verbundlegierungen wie AuNi oder ZnNi auf einem Metallsubstrat
• Chemisch Nickel Beschichtungen auf Substraten wie Cu oder Al
• Beschichtungen mit mehreren Lagen, zwei oder mehr Schichten auf einem Substrat (Cr/Ni/Cu)
• Mehrschichtige elektrophoretische Abscheidung (EPD): Au/Ni/Cu, SnAgCu/Cu, Au/Pd/Ni/Cu, etc.
• Schmuckbeschichtungen wie Au/Ni/Cu, Rh/Weißgold, PdNi/Messing
• Analyse von Lösungen aus galvanischen oder Beschichtungsbädern