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Analizadores de microscopio electrónico: EDS, EBSD, SEM Micro-XRF

Analizadores de microscopio electrónico

Nuestros sistemas de EDS, EBSD y micro-XRF para microscopios electrónicos de barrido (SEM) ofrecen un análisis exhaustivo de la composición y la estructura de los materiales en microscopios electrónicos, incluyendo detectores innovadores y líderes en el sector para aplicaciones avanzadas.

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