Bruker AXS - EMA

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EDS, WDS, EBSD, SEM Mikro-XRF

Analysesysteme für Elektronenmikroskope

Unsere Systeme für EDS, EBSD und Mikro-XRF am REM ermöglichen eine umfassende Analyse der Zusammensetzung und Struktur von Materialien unter dem Elektronenmikroskop und umfassen innovative, branchenführende Detektoren für anspruchsvolle Anwendungen.

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